Siemens SFH487P Datasheet

GaAIAs-IR-Lumineszenzdiode (880 nm) GaAIAs Infrared Emitter (880 nm)
SFH 487 P
Area not flat
0.6
0.4
spacing
2.54 mm
Approx. weight 0.3 g
Maβe in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
1.8
1.2
0.7
29 27
0.4
Wesentliche Merkmale
GaAIAs-IR-Lumineszenzdiode, hergestellt
im Schmelzepitaxieverfahren
Hohe Zuverlässigkeit
Enge Toleranz: Chipoberfläche/
Bauteiloberkante
Hohe Impulsbelastbarkeit
Si-Fotoempfänger
Sehr plane Oberfläche
Gehäusegleich mit SFH 309
0.8
0.4
4.5
4.0
Cathode
3.1
2.5
2.0
1.7
3.5 Chip position
ø3.1
ø2.9
4.0
3.6
0.6
0.4
GEX06308
Features
GaAIAs infrared emitting diode, fabricated in
a liquid phase epitaxy process
High reliability
Small tolerance: Chip surface to case
surface
High pulse handling capability
Good spectral match to silicon
photodetectors
Plane surface
Same package as SFH 309
fex06308
Anwendungen
Lichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb bis 500 kHz
LWL
Typ Type
Bestellnummer Ordering Code
Gehäuse Package
Applications
Photointerrupters
Fibre optic transmission
SFH 487 P Q62703-Q517 3-mm-LED-Gehäuse, plan, klares violettes Epoxy-
Gieβharz, Anschlüsse im 2.54-mm-Raster (
1
/10’’), Anodenkennzeichnung: kürzerer Anschluβ 3 mm LED package (T 1), plane, violet-colored trans­parent epoxy resin, solder tabs lead spacing 2.54 mm (1/10’’), anode marking: short lead
Semiconductor Group 1 1997-11-01
Grenzwerte (TA = 25 °C) Maximum Ratings
SFH 487 P
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range
Sperrschichttemperatur Junction temperature
Sperrspannung Reverse voltage
Durchlaβstrom Forward current
Stoβstrom, τ≤10 µs Surge current
Verlustleistung Power dissipation
Wärmewiderstand, freie Beinchenlänge max. 10 mm Thermal resistance, lead length between package bottom and PC-board max. 10 mm
Symbol Symbol
T
; T
op
stg
T
j
V
R
I
F
I
FSM
P
tot
R
thJA
Wert Value
Einheit Unit
– 55 ... + 100 °C
100 °C
5V
100 mA
2.5 A
200 mW
375 K/W
Kennwerte (
T
= 25 °C)
A
Characteristics Bezeichnung
Description
Wellenlänge der Strahlung Wavelength at peak emission
I
= 100 mA
F
Spektrale Bandbreite bei 50 % von
I
= 100 mA
F
Spectral bandwidth at 50 % of I
I
max
Abstrahlwinkel Half angle
Aktive Chipfläche Active chip area
Abmessungen der aktiven Chipfläche Dimension of the active chip area
max
Symbol Symbol
λ
peak
,
∆λ 80 nm
Wert Value
Einheit Unit
880 nm
ϕ±65 Grad
deg.
A
L × B L
× W
0.16 mm
0.4 × 0.4 mm
2
Semiconductor Group 2 1997-11-01
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