Siemens SFH225FA Datasheet

Silizium-PIN-Fotodiode mit Tageslichtsperrfilter Silicon PIN Photodiode with Daylight Filter
SFH 225 FA
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm , unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Speziell geeignet für Anwendungen bei
880 nm
Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns)
Auch gegurtet lieferbar
Anwendungen
IR-Fernsteuerung von Fernseh- und
Rundfunkgeräten, Videorecordern, Lichtdimmern und Gerätefernsteuerungen
Lichtschranken für Gleich- und
Features
Especially suitable for applications of
880 nm
Short-switching time (typ. 20 ns)
5 mm LED plastic package
Also available on tape
Applications
IR-remote control of hi-fi and TV sets, vid eo
tape recorders, dimmers, remote control of various equipment
Photointerrupters
Wechsellichtbetrieb
Typ (*vorher) Type (*formerly)
Bestellnummer Ordering Code
feo06422
SFH 225 FA
Q62702-P1051
(*SFH 225)
Semiconductor Group 1 1998-04-20
Grenzwerte Maximum Ratings
SFH 225 FA
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom Gehäuse entfernt bei Lötzeit
t ≤ 3 s)
Soldering temperature in 2 mm distance from case bottom (
t ≤ 3 s)
Sperrspannung Reverse voltage
Verlustleistung,
T
= 25 °C
A
Total power dissipation
T
Kennwerte (
= 25 °C, λ = 870 nm)
A
Characteristics Bezeichnung
Description
Symbol Symbol
T
; T
op
stg
T
S
V
R
P
tot
Symbol Symbol
Wert Value
Einheit Unit
– 40 ... + 80 °C
230 °C
20 V
150 mW
Wert Value
Einheit Unit
Fotoempfindlichkeit Spectral sensitivity
V
= 5 V, Ee = 1 mW/cm
R
2
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit Wavelength of max. sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen Fläche Dimensions of radiant sensitive area
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseober­fläche Distance chip front to case surface
Halbwinkel Half angle
S
λ
S max
34 (25) µA
900 nm
λ 740 ... 1120 nm
A
L × B
× W
L H
4.84 mm
2.20 × 2.20 mm × mm
0.6 ... 0.8 mm
ϕ±60 Grad
deg.
2
Semiconductor Group 2 1998-04-20
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