Siemens SFH214, SFH214FA Datasheet

SFH 214 SFH 214 FA
Neu: Silizium-PIN-Fotodiode mit sehr kurzer Schaltzeit New: Silicon PIN Photodiode with Very Short
Switching Time
SFH 214 SFH 214 FA
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Speziell geeignet für Anwendungen im
Bereich von 400 nm bis 1100 nm (SFH 214) und bei 880 nm (SFH 214 FA)
Kurze Schaltzeit (typ. 5 ns)
5 mm-Plastikbauform im LED-Gehäuse
Auch gegurtet lieferbar
Anwendungen
Industrieelektronik
“Messen/Steuern/Regeln”
Schnelle Lichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb
LWL
Typ Type
Features
Especially suitable for applications from
400 nm to 1100 nm (SFH 214) and of 880 nm (SFH 214 FA)
Short switching time (typ. 5 ns)
5 mm LED plastic package
Also available on tape
Applications
Industrial electronics
For control and drive circuits
Photointerrupters
Fiber optic transmission systems
SFH 214 Q62702-P922
feof6652 feo06652
SFH 214 FA Q62702-P1672
Semiconductor Group 1
03.96
Grenzwerte Maximum Ratings
SFH 214 SFH 214 FA
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom Gehäuse entfernt bei Lötzeit
t ≤ 3 s)
Soldering temperature in 2 mm distance from case bottom (t 3 s)
Sperrspannung Reverse voltage
Verlustleistung Total power dissipation
Kennwerte
(T
= 25 °C)
A
Characteristics Bezeichnung
Description
Symbol Symbol
T
; T
op
stg
T
S
V
R
P
tot
Symbol Symbol
Wert Value
Einheit Unit
– 55 ... + 100 °C
300 °C
50 V
100 mW
Wert
Value
Einheit Unit
Fotoempfindlichkeit Spectral sensitivity
V
= 5 V, Normlicht/standard light A,
R
T = 2856 K, V
= 5 V, λ = 870 nm, Ee = 1 mW/cm
R
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit Wavelength of max. sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen Fläche Dimensions of radiant sensitive area
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseober­fläche Distance chip front to case surface
2
SFH 214 SFH 214 FA
S
S
λ
S max
45 ( 30)
25 ( 20)
nA/Ix
µA
850 900 nm
λ 400 ... 1100 750 ... 1100 nm
A 11 mm
L × B
× W
L H
1 × 11×1mm×mm
3.4 ... 4.0 3.4 ... 4.0 mm
2
Semiconductor Group 2
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