Siemens SFH204F, SFH204FA Datasheet

Silizium-PIN-Fotodiode mit Tageslichtsperrfilter Silicon-PIN-Photodiode with Daylight Filter
Chip positionArea not flat
5.1
4.7
5.3
4.9
mm
spacing
2.54
Cathode
1.8
1.2
0.6
0.5
0.4
0.3
0.8
(3.8)
34 32
0.4
6.3
5.7
SFH 204 F SFH 204 FA
GEO06964
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Speziell geeignet für Anwendungen bei
880 nm
Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns)
5 mm-Plastikbauform im LED-Gehäuse
Anwendungen
IR-Fernsteuerung von Fernseh- und
Rundfunkgeräten, Videorecordern, Lichtdimmern, Gerätefernsteuerungen
Lichtschranken für Gleich- und
Features
Especially suitable for applications of
880 nm
Short switching time (typ. 20 ns)
5 mm LED plastic package
Also available on tape
Applications
IR-remote control of hi-fi and TV sets, video
tape recorders, dimmers, remote control of various equipment
Photointerrupters
Wechsellichtbetrieb
Typ Type
Bestellnummer Ordering Code
SFH 204 F Q62702-P5052 SFH 204 FA Q62702-P1793
Semiconductor Group 1 1998-11-12
Grenzwerte Maximum Ratings
SFH 204 F SFH 204 FA
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom Gehäuse entfernt bei Lötzeit t 3 s) Soldering temperature in 2 mm distance from case bottom (t 3 s)
Sperrspannung Reverse voltage
Verlustleistung, TA = 25 °C Total power dissipation
Kennwerte (TA = 25 °C) Characteristics
Bezeichnung Description
Symbol Symbol
T
; T
op
T
S
V
R
P
tot
Symbol Symbol
stg
SFH 204 F
λ = 950 nm
Wert Value
Einheit Unit
– 55 ... + 100 °C
230 °C
20 V
150 mW
Wert
Value
SFH 204 FA
λ = 870 nm
Einheit Unit
Fotoempfindlichkeit Spectral sensitivity
V
= 5 V, Ee = 1 mW/cm
R
2
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit Wavelength of max. sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen Fläche Dimensions of radiant sensitive area
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseoberfläche Distance chip surface to case surface
Halbwinkel horizontal Half angle horizontal plane
S
λ
S max
52 ( 43) 52 ( 43) µA
920 900 nm
λ 780 ... 1120 740 ... 1120 nm
A 4.84 4.84 mm
L × B
L
× W
H
ϕ±60 ± 60 Grad
2.20 × 2.20 2.20 × 2.20 mm × mm
1.9 ... 2.4 1.9 ... 2.4 mm
deg.
2
Semiconductor Group 2 1998-11-12
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