Silizium-PIN-Fotodiode mit Tageslichtsperrfilter
Silicon-PIN-Photodiode with Daylight Filter
Chip positionArea not flat
5.1
4.7
5.3
4.9
mm
spacing
2.54
Cathode
1.8
1.2
0.6
0.5
0.4
0.3
0.8
(3.8)
34
32
0.4
6.3
5.7
SFH 204 F
SFH 204 FA
GEO06964
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
● Speziell geeignet für Anwendungen bei
880 nm
● Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns)
● 5 mm-Plastikbauform im LED-Gehäuse
● Auch gegurtet lieferbar
Anwendungen
● IR-Fernsteuerung von Fernseh- und
Rundfunkgeräten, Videorecordern,
Lichtdimmern, Gerätefernsteuerungen
● Lichtschranken für Gleich- und
Features
● Especially suitable for applications of
880 nm
● Short switching time (typ. 20 ns)
● 5 mm LED plastic package
● Also available on tape
Applications
● IR-remote control of hi-fi and TV sets, video
tape recorders, dimmers, remote control of
various equipment
● Photointerrupters
Wechsellichtbetrieb
Typ
Type
Bestellnummer
Ordering Code
SFH 204 F Q62702-P5052
SFH 204 FA Q62702-P1793
Semiconductor Group 1 1998-11-12
Grenzwerte
Maximum Ratings
SFH 204 F
SFH 204 FA
Bezeichnung
Description
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom
Gehäuse entfernt bei Lötzeit t ≤ 3 s)
Soldering temperature in 2 mm distance
from case bottom (t ≤ 3 s)
Sperrspannung
Reverse voltage
Verlustleistung, TA = 25 °C
Total power dissipation
Kennwerte (TA = 25 °C)
Characteristics
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
T
; T
op
T
S
V
R
P
tot
Symbol
Symbol
stg
SFH 204 F
λ = 950 nm
Wert
Value
Einheit
Unit
– 55 ... + 100 °C
230 °C
20 V
150 mW
Wert
Value
SFH 204 FA
λ = 870 nm
Einheit
Unit
Fotoempfindlichkeit
Spectral sensitivity
V
= 5 V, Ee = 1 mW/cm
R
2
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
Wavelength of max. sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche
Radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
Dimensions of radiant sensitive area
Abstand Chipoberfläche zu
Gehäuseoberfläche
Distance chip surface to case surface
Halbwinkel horizontal
Half angle horizontal plane
S
λ
S max
52 (≥ 43) 52 (≥ 43) µA
920 900 nm
λ 780 ... 1120 740 ... 1120 nm
A 4.84 4.84 mm
L × B
L
× W
H
ϕ±60 ± 60 Grad
2.20 × 2.20 2.20 × 2.20 mm × mm
1.9 ... 2.4 1.9 ... 2.4 mm
deg.
2
Semiconductor Group 2 1998-11-12