Omron ZS series BROCHURE [nl]

ZS-serie

D e sc h aa l ba r e m e e t s e n so r v o or a l l e o p pe r vl ak k e n

» S u b - m ic ro nl a s e r m et in g

»

Buite n g ewo n e sc h a a l ba a r h e i d

»

Ee nv o u d ig t e g e b r u i ke n , t e in te g re r e n en te be d i e n e n

Advanced Industrial Automation

Verbeterde flexibiliteit
door ‘smart’ schaalbaarheid

Laserafstandssensoren uit de ZS-serie vormen een

slimme, modulaire en schaalbare reeks die een

platformbenadering biedt voor de uitvoering van de

meest uitdagende meettaken. De ZS-L is gebaseerd

op de CMOS-technologie van Omron en meet met

sub-micronnauwkeurigheid in een fractie van een

milliseconde – en vrijwel elk oppervlak. De ZS-L-

serie wordt geleverd met een sensorcontroller, een

gegevensopslagunit en een multi-controller waarmee u

maximaal 9 units kunt coördineren.

Hiermee kunt u nauwkeurig de dikte, vlakheid of

kromte van materiaal meten.

Meting middenafstand

350

ZS-LD350S
(lange afstand)

Modellen met diffuse
reflectie

Modellen met
gefocusseerde
reflectie

Belangrijkste eigenschappen

• Nauwkeurig en snel: 0,25 μm bij een

meettijd van minder dan 110 μs

• Eén sensor voor alle

materiaalstructuren: stabiele meting

van vrijwel elke materiaalstructuur,

zoals glas, folie of rubber

• Krachtig: kan dankzij de controller

voor meerdere units nauwkeurig

dikte, kromte en vlakheid meten

• Slim: gegevensopslagunit voor

traceerbaarheid en opslag van

gegevens

• Eenvoudig te gebruiken: ingebouwde

gebruikersinterface en krachtige,

gebruiksvriendelijke tool voor

pc-configuratie

200

130

80

50
40

20

240 µm dia.

900 x 100 µm

600 x 70 µm

ZS-LD200

900 x 60 µm

ZS-LD130

900 x 60 µm

ZS-LD80

2000 x 35 µm

ZS-LD50

900 x 25 µm

ZS-LD40T

ZS-LD20T

Grootte laserspot/-bundel

Sensorkop

Sensorkoppen ZS-LD

CMOS-technologie gebundeld in

een uiterst compacte sensorkop.

• Breed scala van sensorkoppen

met een detectieafstand van

20 mm tot 350 mm

• Digitale technologie resulteert

in grote ongevoeligheid voor

verstoring door ruis, waardoor

de kabel kan worden verlengd

tot maar liefst 22 m

• Bescherming tot klasse IP67

• Laserklasse 2

Op CMOS gebaseerde sensorkop

Dankzij CMOS-technologie is unieke,
oppervlak-onafhankelijke detectie mogelijk

Meet een diversiteit aan typen verschillende objecten en biedt daarbij grote nauwkeurigheid op alle oppervlakken

Controle van profiel Controle van waferdikte en -kromte Controle van glasvlakheid Controle printplaathoogte

Maximaal 9 sensorcontrollers

Bewaken Vastleggen

SmartMonitor-tool

Professionele tool voor

configuratie, installatie

en bewaking.

• Verschaft zeer

snelle gelijktijdige

meerkanaalsgrafieken

• Bevat Excel-macro voor

eenvoudige analyse

• Ondersteunt documentatie-

en kwaliteitscontroletaken

ZS-DSU-gegevensopslagunit

Snelle gegevensopslag waardoor

foutopsporing en instelling van

het systeem gemakkelijk is.

• Zeer snelle meettijd: 150 μs

• Krachtige ondersteuning voor

• Ondersteunt

de opslag van gegevens met

diverse triggerfuncties

CompactFlash-kaart voor

geheugenuitbreiding

Besturen

ZS-MDC-controllerunit voor
meervoudige detectie

Coördineert gegevensoverdracht

tussen sensorcontrollers en voert

zeer snelle berekeningen uit voor

complexe meettaken.

• Coördineert gegevens tussen

maximaal negen controllers

• Snelle berekening van

metingen, zoals:

- Dikte

- Vlakheid

- Kromte

- 4 verschillende taken

- Vrije wiskundige functies

Zeer snelle bus

Bedienen

ZS-LDC-sensorcontroller

Garandeert altijd de beste

meetprestaties.

• Ondersteunt een breed scala

aan sensorkoppen van een

korte afstand (20 mm) tot

een lange afstand (350 mm)

• Hoge graad van

nauwkeurigheid: 0,4 μm

• Snelle reactietijd: 110 μs

• USB- en RS232-poort

• Intuïtieve instelling via

ingebouwd toetsenblok

en digitale operator

Net zo groot als visitekaartje

Advanced Industrial Automation

ZS-LD50/LD80

Slimme instelling
voor verschillende
oppervlakken

Selecteer gewoon het
type oppervlak en alle
specifieke parameters voor
uw toepassing worden
automatisch ingesteld.

Directe instelling
met functietoetsen

Directe meting van de oppervlakprofielstructuur van PCB’s

Tijdens de meting wordt de kwaliteit
van het reflectiesignaal getraceerd.
Een betrouwbare en veilige werking
is gegarandeerd door eenvoudige
instelling en regeling.

Stabiele metingen voor PCB’s, zwart hars en metaal

U hoeft alleen maar het type oppervlak te selecteren om

stabiele detectie van PCB’s, harsen, zwart rubber en andere

lichtdoorlatende objecten te bereiken.

Slimme instelsoftware voor geavanceerde functionaliteit

De SmartMonitor Zero Professional-software biedt een functie

die meetniveaus (drempelwaarden voor grenzen) wijzigt om de

fout te verkleinen die wordt veroorzaakt door lichtindringing,

zodat veel typen PCB’s kunnen worden gemeten.

Het meetniveau kan zo worden verhoogd dat de meetpositie

wordt aangepast van de ontvangst van pieklicht. Dankzij deze

functie is een stabiele detectie van PCB-oppervlakken mogelijk.

Als er onvoldoende licht in de snelle modus is, kunnen ter

compensatie gain-instellingen (0 tot 5) worden gebruikt.

Een nieuwe glasmodus
Verschillende reflecties kunnen worden gemeten op de CMOS

Glas

Glasdikte

Tussenruimte glas

ZS-LD20T/ZS-LD40T
De slimme manier om glas-
en spiegeloppervlakken te meten

Transparante objecten detecteren

Wanneer een lichtbundel het oppervlak van een object raakt,

wordt een bepaalde hoeveelheid van het licht gereflecteerd,

een deel gaat door het object heen en de rest wordt

geabsorbeerd. Bij transparant materiaal, zoals glas,

kan de ZS-L gereflecteerd licht van het bovenste oppervlak,

van het middelste gedeelte en van het onderste gedeelte

van glas opvangen.

• Superieure functies voor halfgeleiderwafer-,

glas- en andere metingen die nauwkeurigheid vereisen

• Een ongeëvenaarde stationaire meetprecisie van 0,01 μm,

de hoogste in deze productklasse

• Maakt stabiele meting mogelijk van hoogte en golvingen in

transparant glas met een coating op werktafels. Met menu’s

kunt u gemakkelijk de meetvoorwaarden voor een breed

scala aan glas instellen om stabiele metingen te bereiken

• Dankzij uitstekende meetstabiliteit en zeer snelle reactie bij

een sub-micronresolutie is meting van de dikte van plat glas

tijdens het productieproces mogelijk.

Directe
detectie-instelling

FUN (instelmodus)

Directe instelling
met functietoetsen

Advanced Industrial Automation