Omron ZS series BROCHURE [it]

SENSORE DI SPOSTAMENTO ZS

I l se n s o r e di mi su r a sc a l a bi l e pe r t u t t e le s u p e r f i c i

» M i s u r a la s e r co n p r e c is io n e in fe ri o r e a l m i cr o n

»

Est rema sc al ab il ità

»

Fa c i le da i n t e gr a re e d a u ti l i z z a r e

Advanced Industrial Automation

Elevata flessibilità grazie
alla scalabilità intelligente

I sensori di spostamento laser ZS comprendono una

linea scalabile, modulare e intelligente che offre una

piattaforma per l’esecuzione dei task di misura più

complessi. Basato sulla tecnologia CMOS di Omron,

ZS-L è in grado di effettuare misure con una precisione

inferiore al micron in una frazione di millisecondo e

su qualsiasi tipo di superficie. La serie ZS-L è dotata

di un’unità di controllo del sensore, un modulo

di memorizzazione dei dati e un’unità di controllo

multiplo in grado di coordinare fino a 9 moduli.

Consente una misura accurata dello spessore,

dell’uniformità e della deformità dei materiali.

Distanza dal centro di

misura

350

ZS-LD350S
(lunga portata)

Modelli a riflessione
diffusa

Modelli a riflessione
regolare

Caratteristiche principali

• Preciso e veloce - 0,25 μm con un
tempo di campionamento inferiore
a 110 μs

• Un unico sensore per tutti gli
usi - misura stabile di quasi tutti
i materiali, come vetro,
lamine o gomma

• Potente - consente di misurare con
precisione lo spessore, la deformità
e l’uniformità dei materiali grazie
all’unità di controllo multiplo

• Intelligente - modulo di
memorizzazione per la rintracciabilità
e la registrazione dei dati

• Facile utilizzo - interfaccia utente
integrata, un potente e intuitivo
strumento di configurazione del PC

Testa di

rileva­mento

-

200

130

80

50
40

20

Ø 240 µm

900 x 100 µm

600 x 70 µm

ZS-LD200

900 x 60 µm

ZS-LD130

900 x 60 µm

ZS-LD80

2000 x 35 µm

ZS-LD50

ZS-LD40T

900 x 25 µm

ZS-LD20T

Testa di rilevamento
basata sulla tecnologia CMOS

Dimensioni fascio/spot laser

Teste di rilevamento ZS-LD

Tecnologia CMOS integrata

in una testa di rilevamento

ultracompatta.

• Ampia gamma di teste di
rilevamento, con una distanza
di rilevamento compresa fra
20 mm e 350 mm

• La tecnologia digitale
garantisce un alto livello
di protezione dai disturbi
e consente di utilizzare cavi
di prolunga di lunghezza
fino a 22 m

• Classe di protezione
fino a IP67

• Laser di classe 2

La tecnologia CMOS comprende funzioni esclusive di rilevamento
indipendente dalla superficie

Consente di misurare vari tipi di oggetti con la massima precisione su tutte le superfici

Ispezione dei profili Ispezione dello spessore e della

Fino a 9 unità di controllo dei sensori

Monito-

raggio

deformazione dei wafer

Registra-

zione

Ispezione dell’uniformità del vetro Ispezione dell’altezza delle schede per PC

Bus ad alta velocità

Controllo

Funziona-

mento

Dimensioni ultracompatte

Software SmartMonitor

Strumento professionale per

la configurazione, l’impostazione

e il monitoraggio.

• Consente di ottenere grafici
multicanale simultanei ad
alta velocità

• Comprende macro Excel
per semplificare le analisi

• Supporta attività di
documentazione e
controllo qualità

Advanced Industrial Automation

Modulo di memorizzazione
dei dati ZS-DSU

La rapida memorizzazione dei

dati consente di eseguire con

facilità il debug e l’impostazione

del sistema.

• Frequenza di campionamento
alta velocità: 150 μs

• Potente supporto per la
registrazione dei dati grazie a
varie funzioni di attivazione

• Supporto di schede Compact
Flash per l’estensione della
memoria

Unità di controllo multiplo
del sensore ZS-MDC

Permette di coordinare i dati fra

le unità di controllo del sensore e

di eseguire calcoli ad alta velocità

per task di misura complessi.

• Consente di coordinare
i dati di un massimo di
nove unità di controllo

• Rapido calcolo di misure quali:

- Spessore

- Uniformità

- Deformità

- 4 task differenti

- Calcolo libero

Unità di controllo del sensore
ZS-LDC

Garantisce costantemente

prestazioni di misura ottimali

• Supporta un’ampia gamma
di teste di rilevamento, da
quelle a breve portata
(20 mm) a quelle a lunga
portata (350 mm)

• Elevata precisione – 0,4 μm

• Alta velocità di risposta –
110 μs

• Porta USB e RS-232

• Impostazione intuitiva grazie
al tastierino integrato e alla
console di programmazione

Impostazione
intelligente per

Misura diretta della struttura dei profili delle superfici dei circuiti stampati

le diverse superfici

È sufficiente selezionare
il tipo di superficie e la
tecnologia del sensore
intelligente ZS imposta tutti
i parametri specifici per
l’applicazione in uso.

Impostazione diretta
con i tasti funzione

Durante la misura, viene registrata
la qualità del segnale di riflessione.
Grazie alle semplici funzioni di
impostazione e controllo viene
garantito un funzionamento
affidabile e sicuro.

ZS-LD50/LD80
Misure stabili di circuiti stampati, gomma nera e metallo

Per ottenere un rilevamento stabile di circuiti stampati,
resine, gomma nera e altri oggetti che possono essere penetrati
dalla luce, è sufficiente selezionare il tipo di superficie.

Software intelligente per funzionalità avanzate

Il software SmartMonitor Zero Professional dispone di
una funzione che modifica i livelli di misura (soglie limite)
per ridurre gli errori causati dalla penetrazione della luce,
consentendo la gestione di molti tipi di circuiti stampati.
È possibile aumentare il livello di misura per modificare
la posizione di misura per la ricezione di picco della luce.
Con questa funzione si effettua il rilevamento stabile delle
superfici dei circuiti stampati. Se la luce non è sufficiente
nella modalità ad alta velocità, è possibile utilizzare le
impostazioni di guadagno (da 0 a 5) come compensazione.

Nuova modalità di funzionamento “glass” (vetro)
È possibile misurare varie riflessioni sul sensore CMOS

Vetro

Spessore del vetro

Distanza del vetro

ZS-LD20T/ZS-LD40T
Il modo intelligente per misurare superfici di vetro e a specchio

Rilevamento di oggetti trasparenti

Quando un fascio di luce colpisce la superficie di un oggetto,
una certa quantità di luce viene riflessa, un’altra parte viene
trasmessa attraverso l’oggetto e il resto viene assorbito. Nel
caso di materiali trasparenti quali il vetro, ZS-L è in grado di
acquisire la luce riflessa dalla sezione superiore, da quella
centrale e da quella inferiore del vetro.

• Funzioni avanzate per la misura di wafer di semiconduttori,
vetro e altri materiali che richiedono la massima precisione

• Incredibile precisione di misura 0,01 μm costante, la più alta
di questa classe di prodotti

• Consente una misura stabile dell’altezza e delle ondulazioni
di vetri trasparenti e con rivestimento sui piani di lavoro.
I menu permettono di impostare con facilità le condizioni
di misura di una vasta gamma di vetri per ottenere
misure stabili

• L’eccellente stabilità di misura e la rapida risposta con
risoluzione inferiore al micron rende possibile misurare lo
spessore di vetri piani durante il processo di produzione.

Impostazione diretta
del rilevamento

FUN
(modalità di impostazione)

Impostazione diretta
con i tasti funzione

Advanced Industrial Automation