Agilent Zahlreiche Möglichkeiten User Manual [de]

Höchste Leistungsfähigkeit. Jederzeit.

Zahlreiche Möglichkeiten, unübertroffene Zuverlässigkeit und

höchste Leistungsfähigkeit

Der neue Agilent 5975B inert MSD

• Inerte Ionenquelle für hohe Leistung

• Erweiterter Massenbereich

• Synchroner SIM/Scan-Modus mit automatischer
Einrichtung

• Neue, wartungsfreie Vorpumpe

• Schnelle Substanzquantifizierung mit SemiQuant

• Verbesserte Deconvolution Reporting Software mit
Retention Time Locking Datenbanken

Kontinuierliche Verbesserungen

Kontinuierliche Innovationen für
besseres, schnelleres und
bequemeres Arbeiten

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Das innovative GC/MS-System - der

Agilent 5975B inert MSD

7683 ALS: selbstjustierender
automatischer Flüssigkeitsprobengeber

5975B inert MSD: bisher
höchster Automatisierungs­grad aller Agilent GC/MS­Systeme

6890N GC: der Industriestandard-GC, wenn
es um Zuverlässigkeit und Leistung geht

5975B inert GC/MS System – konzipiert für zuverlässige Ergebnisse

• Inerte Ionenquelle: beste Nachweisfähigkeit für aktive Verbindungen

• Echter hyperbolischer Quadrupol: maximale Transmission und Auflösung

• Thermisch stabiler Quarz-Quadrupol: Der proprietäre Agilent Quadrupol kann

auf bis zu 200 °C aufgeheizt werden. Dies garantiert eine Langzeitstabilität der
Massenachse

• Schnell auswechselbares Elektronen-Vervielfacherhorn: Der versetzt zur

Achse angebrachte Detektor mit Hochenergie-Dynode (HED) sichert eine lange
Lebensdauer und beste Empfindlichkeit

• Höchste Massenachsenstabilität

ddeerr BBrraanncchhee::

lang anhaltende Stabilität des

Tunings und der Kalibrierung

• Auto CI: automatische EPC-Justierung des Reaktionsgases und CI-Tuning

• Schnelles Scannen: Scanraten bis zu 10.000 u/s

• Elektronenstoß-Ionisation (EI) mit einer standardmäßigen Cl-Ionenquelle:

EI- und CI-Spektren aus einer einzigen Quelle

• Schnelles SIM: Verweilzeiten von nur 1 ms

• Synchroner SIM/Scan-Modus mit automatischer SIM/Scan-Einrichtung:

Erfassung hochempfindlicher SIM- und Scan-Daten für die Bibliothekssuche

• Massenbereich bis 1050 m/z: erweiterter Applikationsbereich für

Verbindungen mit hoher Masse

• Ammoniakspezifikation für PCI/NCI

• SemiQuant-Software: einfache und schnelle Quantifizierung von Substanzen

• Ölfreie Vorpumpe: geräuscharm, ölfrei, nahezu wartungsfrei

Eine Erfolgsgeschichte

2006 - Einführung von SemiQuant:

5975B inert GC/MS

2005 - Einführung von eMethods:

GC/MS 5975 inert

2003 - Erste unbeschichtete inerte

Ionenquelle: 5973 inert GC/MS

1997 - Erster goldbeschichteter hyper-

bolischer Quartz-Quadrupol:

5973 GC/MS

1988 - Erster monolithischer Quartz-

Quadrupol: 5971 GC/MS

1982 - Erstes modulares Benchtop

GC/MS: 5970 GC/MS

1976 - Erstes Benchtop GC/MS:

5992 GC/MS

Agilent ist seit über 30 Jahren weltweit der führende Anbieter für Benchtop GC/MS-Systeme.
Seit der Einführung des ersten Benchtop GC/MS im Jahre 1976 zeichnet sich die Agilent
Produktlinie der Massenspektrometer durch Zuverlässigkeit und hohe Leistungsfähigkeit aus.

Die beste und

wertvollste Lösung

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Hochentwickelte Quadrupol-Technologie – der Goldstandard

Der Goldstandard für Design und Leistung von Quadrupolen

Der Quadrupol für den Agilent 5975B
GC/MSD ist einzigartig – ein echter
Durchbruch für die Quadrupol­Massenspektrometrie.

Das Design

Zur Herstellung des Quadrupol werden von
Agilent patentierte Technologien verwendet.
Das Gerät zeichnet sich durch folgende
Eigenschaften aus:

• Eine spezielle monolithische Quarz-
Struktur definiert eine echte hyper­bolische Form. Quarz besitzt mit die
geringsten Wärmeexpansionseigen­schaften aller verfügbaren Materialien,
wodurch eine hervorragende Stabilität
der Abmessungen über einen großen
Temperaturbereich erreicht wird.

• Hyperbolische Elektrodenflächen,

entwickelt auf der Basis der Halbleiter­metallisierungstechnologie. Als Multilayer
aus Titankomposit und Goldschichten
verschiedener Stärke haben diese Gold­Leiterbahnen eine hervorragende
elektrische Leitfähigkeit - dies jedoch
ohne die für Metallquadrupole typische
unerwünschte Oxidation. Daraus
resultiert ein minimaler Reinigungs­aufwand.

• Ausheizen bei 200 °C für eine

langfristig stabile Leistung

• Hohe Massenstabilität, die geringste

u-Abweichung in der Branche

• Unübertroffene Leistung

Dieser einzigartige Quadrupol hat
das ideale hyperbolische Design.

• Weniger Feldfehler als bei Rundstab-

Quadrupolen

• Bestmögliche Transmission unter

Beibehaltung der Auflösung über den
gesamten Massenbereich

Massenbereich von 1050 u für höchste Applikationsanforderungen

Der 5975B inert MSD führt Scans bis zu 1050 u mit einer Präzision aus, die dem hohen Agilent Standard entspricht. Unser proprietäres
hyperbolisches Quadrupol-Design sichert die notwendige Auflösung, die im Labor für die Messung klassischer Isotopenverhältnisse
und genauer Massenbestimmungen im gesamten Massenbereich erforderlich ist. Darüber hinaus gewährleistet das Testkit für hohe
Massen eine korrekte Massenzuweisung.

Vom Design her einzigartiger monolithischer
Quadrupol

Molekülionen-Cluster bei 959 u – bemerkenswert
ist die Detektion der kleinen Signale der Isotopen

Elektronenstoß-Massenspektrum von Dekabromdiphenyl-Ether (PBDE-209)

799

232

207

266

m/z

200 250 300 350 400 450 500 550 600 650 700 750 800 850 900 950 1000

400

299

458

320

361

480

425

510

639

533

561

589

721

690

611

663

821850

776

751

959

881

909

932

997

Solide inerte Quelle für
unübertroffene Produktivität

Probe um Probe zuverlässig messen.
Der Agilent 5975 inert MSD besitzt
eine patentierte, inerte Ionenquelle
für außergewöhnliche Elektronenstoß­Ionisierung. Die Quelle besteht aus einem
festen, inerten Material, eine inerte
Beschichtung ist daher nicht erforderlich.
Beschichtungen können sich durch die
routinemäßige Reinigung abnutzen, was
sich letztendlich auf Ihre Daten negativ
auswirkt.

Robuste, inerte Ionenquelle - hergestellt
aus einem soliden, inerten Material, nicht
nur mit einer inerten Beschichtung – für
einheitlich hervorragende Ergebnisse bei
jeder Messung.

Die Agilent inerte Ionenquelle zeichnet sich durch über­legene Empfindlichkeit für aktive Verbindungen aus. Das
zeigt dieses Beispiel einer verstärkten Response für
2,4-Dinitrophenol, vor allem bei geringen Konzentra­tionen, die schwierig nachzuweisen sind. Die in der
Grafik dargestellten Daten sind auf die Edelstahl­Ionenquelle normalisiert.

ng injiziert (Cool on-Column)

8

7

6

5

4

3

2

1

0

52080160

Verstärkte Response für 2,4-Dinitrophenol

Relative Response

Edelstahl-Ionenquelle
Inerte Ionenquelle
Inerte Ionenquelle nach dem Reinigen

Die innovative inerte Ionenquelle für eindeutige Ergebnisse

Die inerte Ionenquelle erhöht
die Leistung Ihres Labors

Der 5975B inert MSD nutzt dieselbe
patentierte inerte Ionenquelle, mit der
gewährleistet ist, dass Ihr Labor mit
maximaler Leistung und weniger Unter­brechungen arbeitet. Damit erzielt jedes
Labor die höchstmögliche Produktivität mit
weniger Unterbrechungen. Die inerte
Ionenquelle muss seltener gereinigt werden,
da selbst aktivste Substanzen kaum am
inerten Material haften bleiben. So können
Sie Probe um Probe analysieren, ohne dass
die Qualität Ihrer Daten beeinträchtigt wird.

Der 5975B inert MSD ist das Ergebnis steter
Optimierungen. Die Empfindlichkeit und
Robustheit des 5975B inert MSD macht
dieses Gerät besonders geeignet für die
Analyse aktiver Substanzen wie z. B.
Pestizide und Arzneimittel in komplexen
Matrices.

Massen-Chromatogramme des Pestizids
Fenitrothion mit inerter Ionenquelle (oben)
und einer Standard-Ionenquelle (unten).
Die schwarze Linie zeigt das Auftreten des
ionisierten Fenitrothion (m/z 277), während
die grüne Linie das Auftreten eines Abbau­produktes (m/z 247) kennzeichnet.

Gesuchter Analyt

Ion 277,00

Inerte Ionenquelle

Abbauprodukt

Ion 247,00

Häufigkeit

Gesuchter Analyt

Ion 277,00

Standard Ionenquelle

Abbauprodukt

Ion 247,00

Zeit

Verbesserte spektrale Integrität. Die neue inerte
Ionenquelle eliminiert Oberflächenreaktionen mit
aktiven Substanzen und führt somit zu besseren
Übereinstimmungen bei Bibliotheksvergleichen.

4

6.20 6.40 6.60 6.80 7.00 7.20

Herausragende Ergebnisse für echte Proben:
extrahiertes Ionenchromatogramm (253 m/z)
für LSD unter Verwendung einer inerten
Ionenquelle von Agilent.

Zeit

Häufigkeit

Agilent inerte Ionenquelle

50 pg LSD (S/N ~ 16:1)

Inerte Quelle

Abbauprodukte

Quelle aus

rostfreiem Stahl

125

109

79

93

63

50

40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240

63

50

40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240

138

150

125

138

109

93

79

152

214

mz

214

mz

247

247

260

260 280

260

260 280

277

300 320

277

300 320

5

Stärkeres Signal. Im oben abgebildeten Totalionen­chromatogramm von Heptachlorbiphenyl wird die
Standardelektronik (früherer Agilent 5973 MSD) mit
der neuen High-Performance-Elektronik verglichen.
Beide Chromatogramme wurden mit dem gleichen
Gerät und denselben Scangeschwindigkeiten erstellt
(horizontales Offset zur deutlicheren Darstellung).

Mehr Datenpunkte. 50 Full-Scan Datenpunkte über
0,84-s-Peak (gemessen in halber Höhe). Daten
erstellt mit 10,000 u/s.

High-Performance Elektronik im Full Scan-Modus

Zusätzliche Datenpunkte im SIM-Modus

Performance Electronics
6,250 u/s

Standardelektronik
6,250 u/s

Stärkeres Signal

Die High-Performance Elektronik des
Agilent 5975B inert MSD ermöglicht eine
maximale Signalübertragung für Fast
GC/MS, nicht nur im Full-Scan-Modus
und SIM (Selected Ion Monitoring)­Modus, sondern auch im synchronen
SIM/Scan-Modus.

• Scanraten bis zu 10.000 u/s –

kompatibel mit Fast GC/MS

• Effiziente Elektronik – für einen

synchronen SIM/Scan-Betrieb mit
voller Leistungsfähigkeit

• Mehr Datenpunkte – für bessere

Peak-Integration

High-Performance Elektronik

0,84 s Breite
in halber Höhe

7

High-Performance
Elektronik

Zeit

Zeit

Normalisierte
Häufigkeit

Normalisierte
Häufigkeit

Zeit

Normalisierte
Häufigkeit

Zeit

Normalisierte
Häufigkeit

Standardelektronik

High-Performance
Elektronik

Standardelektronik

0,84 s Breite
in halber Höhe

Schnelle GC/MS im SIM-Modus. Mehr Datenpunkte

für bessere Peak-Integration für schmale Peaks liefern
genauere und besser reproduzierbare Quantifizierung.
Standardelektronik (oben) und High-Performance
Elektronik (unten).

High-Performance vs. Standardelektronik. Sechs PCBs, gemessen in demselben
Gerät mit unterschiedlicher Elektronik. Peak-Kennzeichnungen geben die Anzahl
der Datenpunkte des Peaks an.

7.687.667.647.60 7.62

7.60

7.55

7.65

7.70

8

15

7.407.207.006.80

6

7.607.407.207.006.806.606.40

14

7.60

6

6

6.00 6.20

15

13

11

6.606.406.206.00

9

16

7.60

7.62 7.64 7.66 7.68

7.60 7.62 7.64 7.66 7.68 7.70

6

Der synchrone SIM/Scan-Modus ermöglicht die gleichzeitige Erfassung von SIM- und
Full-Scan-Daten in einer Datenakquisition. In vielen Labors wird der Full-Scan-Modus als
häufigste Form der Datenerfassung eingesetzt, die Methode ist schnell eingerichtet und
Spektrensammlungen stehen jederzeit zur Verfügung. Die SIM-Methode bietet gegenüber
der Full-Scan-Methode zwar eine bedeutend höhere Empfindlichkeit, SIM-Daten können
jedoch nicht mit Hilfe der kommerziell erhältlichen Spektrensammlungen auf Übereinstim­mungen geprüft werden. Der Agilent Synchrone SIM/Scan-Modus vereint die Vorteile
der beiden Betriebsarten SIM und Full-Scan in einer einzigen Datenakquisition.

Darüber hinaus ermöglicht die High-Performance-Elektronik des 5975B inert MSD sehr
schnelle und flexible SIM- und Scan-Datenakquisition.

High-Performance-SIM- (Selected Ion Monitoring) und Full-Scan-Modus

Kein Empfindlichkeitsverlust: Die übereinander dargestellten Chromatogramme
zeigen die Ergebnisse einer Datenerfassung im SIM-Betrieb (blaue Linie) im
Vergleich mit dem SIM-Signal, das im synchronen SIM/Scan-Modus erhalten
wurde (rote Linie).

Zu den Vorteilen des Agilent Synchronen
SIM/Scan-Modus gehören:

• Informationsbestätigung – Full-Scan-

Daten für den Spektrenvergleich in
Bibliotheken.

• Größtmögliche Empfindlichkeit –

SIM-Daten ermöglichen die Spurenanalyse
in verunreinigten Matrices.

• Schneller SIM-Modus – mit einer

Verweilzeit von nur 1 ms

• "Snap-Shots" von SIM/Scan-
Daten – sowohl SIM- als auch Scan­Signale sind in der Datenanalyse sichtbar

• Automatische Methodenkon-
vertierung – Mit der AutoSIM-Funktion
werden Full-Scan-Daten automatisch in
SIM- oder SIM/Scan-Erfassungs­parameter zur Verwendung mit der
synchronen SIM/Scan-Methode
konvertiert.

Chlorthalonil

Schneller SIM-Modus - 1-ms-SIM gegenüber 10-ms-SIM - Die schnelle Elektronik des 5975B
ermöglicht sehr schnelle SIM- und Scan-Datenakquisition. Die SIM-Verweilzeiten können in Schritten
von 1 ms von mehr als 100 ms bis zu 1 ms festgelegt werden. Die Abbildung zeigt sehr schmale,
0,6 s breite, im SIM-Scan-Modus erfasste chromatographische Peaks. Die schnelle Elektronik
ermöglicht 10 Peakscans im Scan- und SIM-Modus.

10 Peakscans für einen
Massenbereich > 350 u

10 SIM-Scans für 10 Ionen
in der SIM-Gruppe

1.47 1.48 1.49 1.50 1.51 1.52 1.53 1.54 1.55 1.56 1.57 1.58

1.47 1.48 1.49 1.50 1.51 1.52 1.53 1.54 1.55 1.56 1.57 1.58

Time

1465 1470 1475 1480 1485 1490 1495 1500

1460