Tektronix BITALYZER BA DATASHEET [hu]

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特長

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最高1.6Gbpsのパターン生成／エラー検出機能により、 デジタル通信シグナリング・システムの迅速で正確な特性評価が可能

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PRBSパターンまたは8Mビットのユーザ定義パターンにより、汎用性の高いデバッグまたは任意のデジタル・シグナリングの組み合わせが検証可能

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内蔵のクロック・ソースによる非常に正確なタイミング

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設定可能な振幅、オフセット、ロジック・スレッショルド、ターミネーションによるシグナリング変動により、レシーバ設計のストレス・テストが可能

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差動およびシングルエンドのI/Oにより、さまざまな通信 バス規格での接続が可能

ビット・エラー・レート・テスタ

BitAlyzer® BAシリーズ　

データ・シート

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BitAlyzer®のError Analysis™によりBER性能の限界が すばやく理解でき、デターミニスティック対ランダム・エラーの評価、詳細なパターン依存エラー解析、エラー・バースト解析、エラーフリー間隔解析が可能

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自動測定によるアイ・ダイアグラム表示と高速アイ・マスク・テストにより、迅速なDUTのシグナル・インテグリティ解析が可能

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ANSIのジッタ測定（RJ、DJ、TJ）による、BER 10 のトータル・ジッタにおけるランダム・ジッタとデターミニスティック・ジッタの影響の測定が可能

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Qファクタの測定により、BERに関する垂直アイ開口をすばやく解析可能

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自動マスク生成とBER輪郭により、アイ・ダイアグラムの 開口をBERの関数として測定、表示可能

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FEC（ForwardErrorCorrection）エミュレーションによる、通信システム設計の内蔵FEC性能検証

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エラー・マッピング機能により、シグナリング・エラーの 原因と場所の特定のためのデバッグ・サポート

アプリケーション

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半導体の特性評価

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アイ・マスクの生成、BER、ジッタ・テスト

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衛星通信システムの機能テスト

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無線通信システムの機能テスト

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光ファイバのシステム／コンポーネント・テスト

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ForwardErrorCorrection（前方向誤り訂正）の検証

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データ・シート

BA1500型、BA1600型のスタート画面。画面右のタッチスクリーン・ボタンにより、表示、動作モードなど、アナライザの設定を行う

より詳細な解析を可能にする妥協のない高性能で、設計業務を効率アップ

BitAlyzer®シリーズ・ビット・エラー・レート・テスタは、設計エンジニアが直面する、最先端の電子回路／通信システム設計の検証、特性評価、デバッグ、テストに関するシグナル・インテグリティとBER問題を解決するための優れたソリューションです。

BA1500型、BA1600型は、日々の業務効率を高めるための信号生成と解析、操作性、デバッグ・ツールなど、優れた性能、機能を備えています。物理レイヤ・テスト・ツールの統合ソフトウェアが利用でき、直感的なユーザ・インタフェースで大きなデータを簡単に得ることができます。

シンプルなユーザ・インタフェース

BA1500型、BA1600型には、従来のビット・エラー・レート・テスタにはない、最新のユーザ・インタフェースが備わっています。ディスプレイには、操作しやすい操作ボタン、わかりやすいステータス・リードアウトが表示されます。スタート画面では、何から操作すればよいか理解できます。インターネット、テクニカル・サポートへのEメール、ネットワーク／プリンタの設定などのリンクもあります。アナライザ、解析機能の操作手順が紹介されているGettingStartedガイドにもアクセスできます。短時間のうちに、機器の設定、エラー測定、ビット・エラーの統計測定を実行することができます。

パターン・ジェネレータ

BA1500型、BA1600型にはデータ・ジェネレータ機能が内蔵されており、5種類の擬似ランダム・データ・ストリームから1つ、または最長8Mビットのユーザ定義のシーケンスを出力することができます。データの出力は、標準の内蔵クロック・ソースまたは外部のクロック入力によって制御されます。さまざまな遅延がサポートされており、ビット周期内において

0.1%の分解能で出力スキューを調整することができます。ユーザ・データ・パターンは、インポートしたり、内蔵のエディタで生成することができます。

直感的なインタフェースにより、パターン生成と内部クロック・ソースが容易に操作可能

差動とシングルエンドの入力がサポートされ、スレッショルド・レベル、終端電圧の設定が可能。ロジック・ファミリの名称設定も可能

工場出荷時のプリセットには、一般的に使用されるロジック・ファミリが含まれています。さらに、クロックとデータは差動、シングルエンド出力の両方で、振幅とオフセット・レベルが独立に調整できます。

パターン・ディテクタ

入力データ・ストリームは、期待されるシーケンスに対してビットごとに比較され、エラーが検出されます。入力シーケンスで検出されたエラーは、内部プロセッサによってリアルタイムに解析したり、内蔵ハード・ディスクに保存して後から解析することもできます。レシーバは、5種類の正または反転の擬似ランダム・シーケンス、または8Mビットのユーザ・パターンと自動的に同期します。

差動およびシングルエンドの入力がサポートされており、代表的なロジック・ファミリを含むファクトリ・プリセットのスレッショルド、ターミネーションに調整されます。Auto Scaleにより、2秒以内でアイの中心を検出することができます。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

このユーザ・データ・パターンの例は、入力データ・ストリームから取込まれ、出力データ・シーケンスとしてパターン・ジェネレータに送られる前にマニュアルで変更されている

ユーザ・パターン・エディタ

ジェネレータやディテクタ・パターン・メモリのユーザ・データ・パターンは、内蔵のパターン・エディタで生成、変更することができます。データは、エラー・ディテクタ入力からパターン・エディタに取込み、リファレンス・パターンを生成することができます。パターン・エディタは、PRBSキーワード、繰返しループ、変数割り当てをサポートします。16進、10進、バイナリに対応します。

パターン・ファイルはWindows NTファイル・システムに保存され、ネットワーク・インタフェースからインポートしたり、アクセスしたりすることができます。パターンは、BA1500 型とBA1600型で共有することができます。

エラー・ログ

BERモニタリングの一般的なアプリケーションでは、エラー測定や、拡張テストにおける目立ったイベントのロギングが必要になります。BA1500型、BA1600型には内蔵のロギング機能があり、ユーザによって設定された間隔においてプログラム可能なスレッショルドよりも悪いBERの値をログするように設定することができます。BERの値のモニタリングの他に、同期損失または設定のロギングも行えます。ログ・ファイルは印刷または保存でき、システム性能を検証していつエラーが発生したかを簡単に確認することができます。

わかりやすいBERログのユーザ・インタフェース。BERスレッショルドを設定し、何をログするのかを定義する。ログ間隔は、DetectorビューでBERを測定する場合の間隔と同じ

個々のエラー・レートとバースト・エラーに対するビット・カウントは、Basic BERビューに表示される。シンプルに分離することでデバッグに集中できる

基本的なBER統計

エラー位置解析は当社特許の手法であり、PCの処理により、テストで検出されたエラーの位置を正確に特定します。 BitAlyzerは、正確なビットの位置から、シンプルなエラー・レートによる方法よりも優れたエラーの依存性と関連性を明らかにします。

個別のビットとバーストのエラー統計表もモニタし、バースト・イベントの数、エラー・カウント、エラー・レートを確認することができます。すべてのエラー位置解析データは、リアルタイムに解析したり、内蔵のハード・ディスクに保存して後から解析したりすることもできます。解析エンジンは、ファイル名、エラー記録モードなどを設定することもできます。

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データ・シート

ストリップ・チャートでわかりやすく表示されるビット・エラー・レートのトレンド。サーマル・サイクルまたは熱変化条件による通信への影響がトラッキングできる

BERのストリップ・チャート

エラー・レートの考察では、トレンドが非常に重要になります。時間に対する測定変化のモニタには、ストリップ・チャートが広く使われています。BitAlyzerには内蔵のストリップ・チャート機能があり、時間に対するビット、バースト、トータル・エラー・レートの変化を観測することができます。時間軸の速度は、各ビット・エラー・レート測定に含まれるビット数によって設定することができます。また、表示のズーム・レベルも設定できます。

低い頻度で発生する繰返しエラーは、この表示で判断することができます。例えば、6秒おきに発生するバースト・エラーなどは簡単に特定できます。ストリップ・チャートは、ライブ・エラー・データまたは保存されたエラー・データ・セットで機能します。

エラーフリー間隔

エラーフリー間隔解析では、被測定システムで発生するさまざまなエラーフリー間隔の頻度を観測することができます。他よりも多くエラーフリー間隔が発生する場合、ランダムなエラーというよりはシステム的なエラーと見ることができます。同時に、繰返しのエラーフリー間隔は干渉の頻度を示し、何が意図しないエラーと相関関係にあるのかを知ることができます。

エラーフリー間隔の情報は短時間に蓄積できるため、膨大なデータを取込まなかったり、エラー障害の分離のために長いテストを行ったりしません。BA1500型、BA1600型のエラーフリー間隔アナライザは、ヒストグラム・ビューの開始ポイント、終了ポイントを設定することで、短い、または長いエラーフリー間隔の測定を設定することができます。

繰返し性のあるエラーフリー間隔は、システム・エラーであることがわかる。このようなスパイクの検出により、干渉周波数がすばやくわかる

この例では、127ビットのPRBS7パターンが使用され、検出されたエラーがデータ・パターンに大きく関係していることがわかる。ヒストグラムの下に表示されるNRZデータは、カーソル位置でのデータ・ビットを示している

パターン感度

パターン感度解析は、データ依存性のエラー特定に有効な方法です。このヒストグラムは、使用されるテスト・パターンのビット・ポジションごとのエラー数を示しています。テスト・パターンは、内蔵のPRBSパターンまたはユーザ定義のパターンが使用できます。カーソルは、パターン依存性のエラーの位置およびその周辺のデータ値を知るために使用します。

長いPRBSパターンによる拡張テストは、わずかなエラーで失敗することがあります。この解析方法を使用すると、すべてのエラーがテスト・パターンの同じビット・シーケンスが原因で発生するものか、またはパターン内でランダムに分布するものかが簡単にわかります。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

ビタビ保護通信チャンネルの代表的なバースト長ヒストグラム。カーソルによるバースト数の測定例

バースト長ヒストグラム

ビット・エラー、バースト・エラーは、さまざまな物理的な現象が原因で発生します。BitAlyzerは、最大32,000ビット長のバースト・エラー長を測定し、ヒストグラムで表示できるため、エラー・タイプの違いをすばやく区別することができます。ユーザは、バースト・エラーに合致する要件を定義します。バースト長ヒストグラムは、正常の動作の特長として役立つとともに、エラー訂正符号化システムの設定に役立ちます。

デジタル処理エラーは、繰返しエラー長の原因となりますが、干渉によってエラー長が変化することがあります。この解析はエラーフリー間隔解析と共に使用されることがあり、エラーのサイズと頻度の両方を理解するのに役立ちます。

エラーの相関

システム・アーキテクチャまたは物理現象とビット・エラー統計間の相関関係を理解することは、多くのエラーの原因特定で重要になります。エラー位置解析の手法は、この相関性を検出するために開発されました。相関解析では、ブロック・サイズを固定ビット数（データ・バス幅またはパケット・サイズ）、または外部マーカ入力（ディスク・ドライブのセクタ・マーカ、またはエンジンのローテーション・マーカなど）で定義した間隔で設定し、このブロックとエラーにどのような相関関係があるかを見ます。

ブロック・サイズ内のすべてのビット位置がエラーの数と等しい場合、相関性はありません。しかし、ブロック内に特定のオフセットが異常に大きい場合は、相関性があります。

MUX/DEMUX回路のテストでは、マルチプレクサの幅との相関性により、エラーがシリアル・ドメインで発生するのか、またはパラレル・ドメインで発生するのかがわかる

システム動作では、ブロック・エラー統計の方が正確なビット・エラー測定よりも重要になることが多い。ブロック・サイズは調整でき、ヒストグラムによりさまざまな数のエラーで何回ブロックが発生しているかがかわる

ブロック・エラー解析

多くのシステムの性能は、ビット・エラー・レートよりもむしろブロック・エラー・レートに関連しています。BA1500型、 BA1600型では、ブロック・サイズを設定し、数多くのエラーを含むブロックが発生する数のヒストグラムを表示します。

カーソルを使用することで、設定した数以上のエラーを含んだブロックの発生数がわかります。最大ブロック・サイズは40 億ビットであり、通常のブロック・サイズの解析には十分です。

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データ・シート

オプションのアイ・ダイアグラムは、ビット・エラー・レート・テスト実行前のデータ入力波形の品質チェックで使用する

アイ・ダイアグラム

アイ・ダイアグラム表示は、物理レイヤ・オプションに含まれている機能です。この表示はBER機能の電気サンプリングと同じであり、機器間でケーブルを交換することなくアイ・ダイアグラムを表示することができます。

立上り／立下り時間、ジッタ、振幅、ノイズ・レベル、アイ開口比率が自動測定できます。アイ・ダイアグラム周辺がパン／ズームできるため、ビット・エラー・レート・テストで使用する信号の様子を詳細に確認することができます。アイ・ダイアグラムでは、ユーザの信号とBERデシジョン回路を組み合わせた影響が示されます。

マスク・テスト

アイ・マスク・テストは、物理レイヤ・オプションに含まれている機能です。アイ・マスク・テストを高速で実行することは、テストの作業効率という点で重要になります。一般的なオシロスコープでは、固定のサンプリング・レートで実行するため、長い時間が必要になります。BERベースの方法では、マスク周囲の内側、上部、下部がテストでき、わずか数秒で確実に測定できます。

標準のマスク・テンプレートが装備されている他、内蔵のエディタで独自のマスクを作成することもできます。BER輪郭解析でマスクを自動的に作成することもできるため、規定のBERレベルのゴールデン・マスクを作成することができます。マスクは、スケールと位置を変更することができます。

業界標準のマスク、カスタム・マスクは、内蔵のBERベース手法により数倍も高速にテストできる

Qファクタは、13秒で表示される。ベスト・デシジョン・レベルはカーソルで示される。100mV付近の電圧レールは広い標準偏差になっているため、開口の中心ではない

Qファクタ解析

Qファクタ解析は、物理レイヤ・オプションに含まれている機能です。時間ドメインにジッタがあるように、振幅ドメインにはQファクタがあります。Qファクタは、振幅のS/N比を測定したものであり、垂直方向のアイ開口のクリーン度を示します。これは、どの程度簡単に1または0のロジックが決定できるかに関係します。

BitAlyzerはサンプル・レートが高いために効率的に実行できるのですが、重要なことは、アイの中央部に近い波形の遷移に対してのみ実行できることです。これにより、最初にエラーになったものがビット・エラーの原因となります。Qファクタ解析では、期待されるベストな予測BER値と最適なデシジョンレベル電圧が表示されます。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

テスト時間を長くすることで、BER輪郭の精度が上げることができる。この例では、1分半かけている。最良の予測BERとサンプリング位置を示している

BER輪郭

ビット・エラー・レートの輪郭測定は、物理レイヤ・オプションに含まれている機能です。この解析では、アイ開口周囲のビット・エラー・レートを計算し、この結果を付加的なノイズによって予測されるビット・エラー・レート応答曲線にフィットさせます。輪郭の深さは、実際の測定よりも低いレベルで補間されます。

BER輪郭は、発生するデシジョン・ポイント変動の量を考慮した後のシステムに、どの程度の余裕があるかを把握するために使用されます。BER輪郭は、既知の良品サンプルに対するマスク・テストのためのゴールデン・マスクとしてエクスポートすることもできます。

詳細なB ER値の予測のためには、1e－4 BER以上のB ERデータは使用しない。テスト時間が長いほど、測定は正確になる

ジッタ・ピーク

ジッタ・テストは、物理レイヤ・オプションに含まれている機能です。高速のBERスキャン手法により、ランダム・ジッタ

（RJ）、デターミニスティック・ジッタ（DJ）、トータル・ジッ

タ（TJ）を自動的に測定します。ジッタ測定の精度は使用されるサンプル・サイズに比例しており、BERTスキャン・データを使用した方法ほどデータ収集効率が優れたジッタ測定方法は他にありません。総合的なBER測定とは、さらに多くのデータ・ポイントを使用してBERを補間し、より正確なジッタ測定を行うことを意味しています。

UI境界から見てジッタ分布の左側と右側は、別々に測定されます。中央の緑の領域は、ガウス分布の内側にあるデターミニスティック・ジッタを示しています。

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FECパラメータは、ライブまたは記録されたエラー・データ・セットで定義、使用できる。1回のエラー・データ・セットでさまざまなFE Cアーキテクチャがすばやくテストできる

Forward Error Correction（前方向誤り訂正）エミュレーション・オプション

FECエミュレーション解析は、BA1500型、BA1600型のオプションです。当社特許のエラー特定機能により、BitAlyzer はテストにおけるエラー発生場所を正確に特定することができます。リードソロモン・アーキテクチャなどのブロック・エラー訂正コードで標準のメモリ・ブロックをエミュレートすることにより、非相関データ・チャンネルからのビット・エラー・レート・データは仮想エラー・コレクタに送られ、推奨されるFEC 手法によって検出することができます。

ユーザはエラー訂正の強さ、インターリーブの深さ、消去機能を設定することができ、一般的なハードウェア訂正アーキテクチャとマッチングすることができます。

一次元の訂正では、FECブロックにおけるシンボル数と訂正可能な数を設定することができます。一次元の訂正は二次元のインターリーブを先行されることができ、バースト・エラーの訂正能力を改善することができます。

二次元の訂正は、製品アレイの訂正を補完するために使用することもできます。このケースでは、ユーザは製品アレイの行と列の数、両方の次元の訂正の強さを設定します。テストでエラーが検出されると、インターリーブの設定にしたがってエミュレーション・テーブルに置かれ、テーブルが一杯になると、エラー数が任意のFEC符号ワードの訂正強度を超えていないかチェックされます。

二次元訂正器では、外部抹消符号を内部符号異常として使用するように設定することもできます。このモードでは、1回の大きなバースト訂正能力が2倍になります。FEC処理において、各符号が使用された回数と異常の回数が確認できます。符号効率も計算され、表示されます。

デジタル・チャンネルでBA1600型のFEC解析ツールを使用すると、チャンネルに存在する実際のエラー統計のアーキテクチャを調整することができます。チャンネルでパターン感度またはバースト干渉の問題がある場合、この状態はFECにはっきりと表れます。これは、ホワイト・ノイズのエラーをベースとする、ソフトウェアによるエラー訂正シミュレーションよりも優れています。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

2Dエラー・マップには、時間またはマイクロ秒でのデータ収集が表示される。ユーザ・データのブロックは、欄ごとに並びエラーの相関性が表示される

2Dエラー・マッピング・オプション

2Dエラー・マッピングは、BA1500型、BA1600型のオプション機能です。この解析では、テストで発見されたエラーから二次元のイメージを生成します。通信システムまたは物理的な相互関係の構造パラメータをベースに、ユーザはブロック係数を設定します。

エラー・マップは垂直ラスタスキャン・イメージで、エラーによるピクセルが表示されます。バーストからのエラーは異なったカラーで表示されるため、バースト・エラーと非バースト・エラーがわかりやすく区別されます。

ブロック・サイズは、パケット・サイズ、マルチプレクサの幅、またはインターリーブの深さなどに関係します。ブロック係数

バーストと非バーストは異なった色で表示される。バックグランドのバースト問題は、他の非バースト・エラー・タイプに重ね合わせられて表示される。非バースト・エラー問題は、パケットに約24,500ビット存在する

は、外部のマーカ信号によっても異なったものになります。例えば、回転ディスク・ドライブのインデックス・マーカは2Dマップで使用でき、ディスク・シリンダの繰返しリードを表示します。ディスクの同じ位置でエラーが繰返し検出される場合は、エラー・マップにおいて水平方向の縞模様となります。

パケット・サイズまたはマルチプレクサ幅をベースとしたエラー・マッピングにより、エラーがパケットの特定の箇所から発生するものか、またはマルチプレクサに接続されたパラレル・バスの特定のビットで発生するものかがわかります。ビジュアル・ツールであるため、目視による相関性が確認でき、他のエラー解析技術でも検出の難しいエラー相関性が確認できることがあります。

エラー・マップは、収集された数時間に及ぶデータを移動、ズームすることができます。カーソルで領域を設定すると、領域内で検出されるエラー数が表示されます。これにより、システムで発生するエラーの様子が容易に確認できます。

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データ・シート

BA1500型、BA1600型は新しい入力技術を採用しており、スレッショルドが可変でき、非常に高いデータ・レートの差動入力信号のDC終端電圧が設定できます。

自動遅延校正

正確な可変遅延設定は、ジッタ、マスク・テスト、アイ・ダイアグラムなどの解析で重要になります。従来の可変遅延技術は、遅かったり、長時間または異なった周波数での遅延校正が維持できませんでした。

BitAlyzerは、新しい技術により、すべての可変遅延要素を1 秒以内、0.1ps単位での分解能で自動的に校正することができます。非常に高速であるため、温度が変化したり、遅延エラーの原因となる周波数が発生した場合の再校正に優れています。

1.5Gbps、2V ク出力

の振幅設定による、BA1600型での代表的なデータ／クロッ

p-p

パターン同期

BA1500型、BA1600型は、PRBSおよびユーザ定義（最高 8Mビット）の両方の同期をサポートしています。他のBERテスタと違い、ユーザ定義のパターンは速度と確度という2種類の方法で同期することができます。速度では、入力データの繰返しパターンを学習することによりユーザ定義のパターンを同期します。ユーザ・パターンを数回実行するだけで同期がとれるため、ファイバの再計算ループ実験、あるいは高速な再同期が必要なアプリケーションにおけるユーザ定義のパターンでは十分高速に実行することができます。確度では、ハードウェアによるサーチで同期を検出するにように、期待されるユーザ・パターンをあらかじめロードすることができます。

パターン・ジェネレータ、エラー・ディテクタの外部制御

BERでは、ゲートによるエラー測定、再同期の正確なタイミング、バースト状のパケットのようなデータが必要になることがあります。BitAlyzerには、エラーをカウントするゲートのため、および外部再同期制御のためのユーザ・ブランク入力があります。マーカ信号があり、特定のアプリケーションで解析結果をカスタマイズすることができます。

BitAlyzerは、外部トリガでパターン・ジェネレータをトリガしてパターン・シーケンスを再スタートすることができます。これにより、外部制御でパケット・タイプのデータを転送したり、複数のパターン・ジェネレータを同期させることができます。

自動アイ・マスク

アイ・ダイアグラム・テストのマスク・テンプレートは、通常は良否判定のためにのみ使用されます。業界標準の定義に基づくものが多いのですが、特定のデバイスの出力波形の詳細を調べるための正確なマスクは、製造現場での微小な変動を監視するために使用することができます。

ビット・エラー・レートの輪郭解析は、アイの周辺で取込んだビット・エラー・レート・データから生成したアイ・ダイアグラム・マスクを自動的にエクスポートする、ビット・エラー・レート・テスタ初めての機能です。

エラー位置解析

BitAlyzerには、データ・ストリームのエラーごとのビットの正確な位置を学習し、保存する機能があります。この機能は、 10年にもわたってさまざまなアプリケーションで使用されており、エラーの原因を分離したり、相関関係を検出したり、干渉を特定したり、一般的な問題を解決することができます。エラー位置解析は、通常のビット・エラー・レート・テストで使用するのと同じ設定で簡単に実行できます。

アイ・ダイアグラム

アイ・ダイアグラムは効率的に収集し、同じデバイスから取込んだビット・エラー・レートのテスト・データと正確に相関を取ります。デシジョン・ウィンドウ電圧、時間をすばやくポジショニングすることでピクセルごとにサンプリングし、アイ・ダイアグラムを生成します。

差動入力

今日の多くの高速通信システムは差動シグナリングを採用しており、優れたコモンモード・ノイズ除去性能を実現しています。このため、真の差動レシーバを使用したビット・エラー・レート測定が必要になります。また、ジッタ測定、アイ・ダイアグラム、マスク・テストなどの解析手法では、ロジック設定のための可変スレッショルド機能も必要になります。

出力ドライバ

BitAlyzerの出力ドライバは、10Gbpsの通信システムで開発された技術によるものです。正確な設計により、小さなジッタ出力と高速なエッジ・レートを実現しており、代表的なロジック・ファミリすべてをカバーする電圧振幅とオフセットに変更することができます。電流ソースとユーザ・インタフェースにより、対象インピーダンスと終端電圧を設定し、校正電圧スイングを維持します。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

性能

ジェネレータ

項目概要

最高周波数

BA1500型 1500MHz（1.5GHz） BA1600型 1600MHz（1.6GHz）

最低周波数

内部クロック 800kHz 外部クロック 100kHz

外部クロック／パターン開始 SMA

コンフィグレーションシングルエンドスレッショルド −2～＋4V 終端 −2～＋3.3V

クロック／データ出力 SMA

コンフィグレーション差動振幅 70mV～＋2V オフセット −1.85～＋3.85V ロジック・ファミリ PECL/LVPECL/LVDSLVTTL/

CML/ECL 立上り／立下り 100ps未満（80ps、代表値）遅延レンジ 30nsまたは1UI 遅延分解能 0.1%UIまたは1ps

トリガ出力 BNC

タイプ CLK/32またはパターンパターン位置プログラマブル振幅 1V以上

A/Bパターン・ページ・スイッチ BNC

スレッショルド TTL

データ・タイプ

擬似ランダム x

ユーザ定義 96ビット～8Mビット

エラー挿入

長さ（ビット） 1、2、4、8、16、32、64、128 周波数シングルまたは繰返し

ディテクタ

項目概要

最高周波数 1600Mbps 最低周波数

BER測定 100kbps 自動最適アイ 70Mbps

+x6+1

+x14+1

+x17+1

+x18+1

+x28+1

2～4Mビット、A/Bページ

32ビット・ワード・サイズ

項目概要

物理レイヤ・テスト 70Mbps

クロック／データ入力 SMA

コンフィグレーション差動またはシングルスレッショルド −2～＋4V ターミネーション −2～＋3.3V 遅延レンジ 30nsまたは1UI 遅延分解能 0.1%UIまたは1ps サンプリング・エッジクロックの立上りまたは立下り感度−シングルエンド 60mV 感度−差動 40mV

（代表値）

p-p

（代表値）

p-p

スタート・ディテクト SMA

コンフィグレーションシングルエンドスレッショルド −2～＋4V ターミネーション −2～＋3.3V 機能トリガ・データの取込み

トリガ出力 BNC

タイプ CLK/32またはパターンパターン位置プログラマブル振幅 1V以上

エラー出力 BNC

機能エラーで32ビット・パルス振幅 1V以上

マーカ入力 BNC

スレッショルド TTL 機能エラー解析ローケータ最高周波数 4kHz推奨

ブランク入力 BNC

スレッショルド TTL 機能アクティブでエラーを無視再同期エッジでトリガ（オプション）最小分解能 32ビット

データ・タイプ

擬似ランダム x

+x6+1

+x14+1

+x17+1

+x18+1

+x28+1

ユーザ定義 96ビット～8Mビット

32ビット・ワード・サイズ

再同期

マニュアル押しボタンまたはブランク自動エラー・スレッショルドをプログラムユーザ取込み繰返しパターンの検出

ユーザ・シフトハードウェア・パターン・サーチデータ取込み最大8Mビット取込み測定 BER、ビット、再同期PG/EDクロック

周波数

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〒108-6106東京都港区港南2-15-2品川インターシティB棟6階

電話受付時間／ 9：00〜12：0 0・13：00〜19：0 0

（土・日・祝・弊社休業日を除く）

テクトロニクスお客様コールセンター TEL:0120-441-046

ヨッ！

良い オシロ

■

記載内容は予告なく変更することがありますので、あらかじめご了承ください。

©Tektronix

項目概要

表示内容

ホーム・ビュースタート・ページジェネレータジェネレータの設定ディテクタディテクタの設定エディタパターン、マスクの編集システムユーティリティ・ツールログロングタームBERログエラー解析標準

ベーシックBER BER解析表バースト長バースト・サイズの履歴エラーフリー間隔間隔の履歴相関性エラー位置の履歴パターン感度パターン内のエラーブロック・モードブロックあたりのエラー履歴ストリップ・チャート BER対時間チャート

物理レイヤ・テストオプション

アイ・ダイアグラムアイ・ダイアグラムの表示 BER輪郭アイ周囲のBERマップマスク・テストマスク・テストの実行ジッタ解析 DJ/RJ/TJのジッタ測定 Q値解析 Qの設定と表示

エラー位置取込み

ライブ解析連続エラー・ロギング容量最大2GBファイル・サイズエラー・イベント／秒 10,000 最大バースト長 32kビット

一般性能

項目概要

TFTディスプレイ 640×480VGA タッチ・センサアナログ抵抗膜セルフテスト電源投入時プロセッサ 500MHzPentium（または同等品）フロッピー 1.44Mバイトハード・ディスク・ドライブ 20Gバイトキーボードマイクロ DRAM 64Mバイトオペレーティング・システム

WindowsNT

（OS）

プリンタ・ポートセントロニクスモニタ出力 DB-15VGA マウス PS/2 リモート・コントローラ IEEE-488（GPIB）またはTCP/IP ネットワーク・インタフェース 100MBEthernet 質量 14.5kg 電源 90～240VAC、270W 寸法 41.9cm（幅）×21.8cm（高さ）×

48.9cm（奥行）

ご発注の際は以下の型名をご使用ください。

製品

型名オプション概要

BA1600 1.6Gbpsパターン・ジェネレータ／

エラー・アナライザ

ECC エラー訂正符号化エミュレーションの追加

MAP エラー・マッピング解析機能の追加

PL 物理レイヤ・テスト・ソフトウェアの追加

BA1500 1.5Gbpsパターン・ジェネレータ／

エラー・アナライザ

ECC エラー訂正符号化エミュレーションの追加

MAP エラー・マッピング解析機能の追加

PL 物理レイヤ・テスト・ソフトウェアの追加

＊TEKTRONIXおよびTEKはTektronix,Inc.の登録商標です。記載された商品名はすべて各社の商標あるいは登録商標です。

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記載内容は予告なく変更することがありますので、あらかじめご了承ください。

Tektronix BITALYZER BA DATASHEET [hu]

Specifications and Main Features

Frequently Asked Questions

User Manual