Tektronix BITALYZER BA DATASHEET [hu]

特長

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最高1.6Gbpsのパターン生成／エラー検出機能により、 デジタル通信シグナリング・システムの迅速で正確な特性評価が可能

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PRBSパターンまたは8Mビットのユーザ定義パターンにより、汎用性の高いデバッグまたは任意のデジタル・シグナリングの組み合わせが検証可能

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内蔵のクロック・ソースによる非常に正確なタイミング

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設定可能な振幅、オフセット、ロジック・スレッショルド、ターミネーションによるシグナリング変動により、レシーバ設計のストレス・テストが可能

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差動およびシングルエンドのI/Oにより、さまざまな通信 バス規格での接続が可能

ビット・エラー・レート・テスタ

BitAlyzer® BAシリーズ　

データ・シート

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BitAlyzer®のError Analysis™によりBER性能の限界が すばやく理解でき、デターミニスティック対ランダム・エラーの評価、詳細なパターン依存エラー解析、エラー・バースト解析、エラーフリー間隔解析が可能

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自動測定によるアイ・ダイアグラム表示と高速アイ・マスク・テストにより、迅速なDUTのシグナル・インテグリティ解析が可能

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ANSIのジッタ測定（RJ、DJ、TJ）による、BER 10 のトータル・ジッタにおけるランダム・ジッタとデターミニスティック・ジッタの影響の測定が可能

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Qファクタの測定により、BERに関する垂直アイ開口をすばやく解析可能

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自動マスク生成とBER輪郭により、アイ・ダイアグラムの 開口をBERの関数として測定、表示可能

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FEC（ForwardErrorCorrection）エミュレーションによる、通信システム設計の内蔵FEC性能検証

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エラー・マッピング機能により、シグナリング・エラーの 原因と場所の特定のためのデバッグ・サポート

アプリケーション

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半導体の特性評価

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アイ・マスクの生成、BER、ジッタ・テスト

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衛星通信システムの機能テスト

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無線通信システムの機能テスト

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光ファイバのシステム／コンポーネント・テスト

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ForwardErrorCorrection（前方向誤り訂正）の検証

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データ・シート

BA1500型、BA1600型のスタート画面。画面右のタッチスクリーン・ボタンにより、表示、動作モードなど、アナライザの設定を行う

より詳細な解析を可能にする妥協のない高性能で、設計業務を効率アップ

BitAlyzer®シリーズ・ビット・エラー・レート・テスタは、設計エンジニアが直面する、最先端の電子回路／通信システム設計の検証、特性評価、デバッグ、テストに関するシグナル・インテグリティとBER問題を解決するための優れたソリューションです。

BA1500型、BA1600型は、日々の業務効率を高めるための信号生成と解析、操作性、デバッグ・ツールなど、優れた性能、機能を備えています。物理レイヤ・テスト・ツールの統合ソフトウェアが利用でき、直感的なユーザ・インタフェースで大きなデータを簡単に得ることができます。

シンプルなユーザ・インタフェース

BA1500型、BA1600型には、従来のビット・エラー・レート・テスタにはない、最新のユーザ・インタフェースが備わっています。ディスプレイには、操作しやすい操作ボタン、わかりやすいステータス・リードアウトが表示されます。スタート画面では、何から操作すればよいか理解できます。インターネット、テクニカル・サポートへのEメール、ネットワーク／プリンタの設定などのリンクもあります。アナライザ、解析機能の操作手順が紹介されているGettingStartedガイドにもアクセスできます。短時間のうちに、機器の設定、エラー測定、ビット・エラーの統計測定を実行することができます。

パターン・ジェネレータ

BA1500型、BA1600型にはデータ・ジェネレータ機能が内蔵されており、5種類の擬似ランダム・データ・ストリームから1つ、または最長8Mビットのユーザ定義のシーケンスを出力することができます。データの出力は、標準の内蔵クロック・ソースまたは外部のクロック入力によって制御されます。さまざまな遅延がサポートされており、ビット周期内において

0.1%の分解能で出力スキューを調整することができます。ユーザ・データ・パターンは、インポートしたり、内蔵のエディタで生成することができます。

直感的なインタフェースにより、パターン生成と内部クロック・ソースが容易に操作可能

差動とシングルエンドの入力がサポートされ、スレッショルド・レベル、終端電圧の設定が可能。ロジック・ファミリの名称設定も可能

工場出荷時のプリセットには、一般的に使用されるロジック・ファミリが含まれています。さらに、クロックとデータは差動、シングルエンド出力の両方で、振幅とオフセット・レベルが独立に調整できます。

パターン・ディテクタ

入力データ・ストリームは、期待されるシーケンスに対してビットごとに比較され、エラーが検出されます。入力シーケンスで検出されたエラーは、内部プロセッサによってリアルタイムに解析したり、内蔵ハード・ディスクに保存して後から解析することもできます。レシーバは、5種類の正または反転の擬似ランダム・シーケンス、または8Mビットのユーザ・パターンと自動的に同期します。

差動およびシングルエンドの入力がサポートされており、代表的なロジック・ファミリを含むファクトリ・プリセットのスレッショルド、ターミネーションに調整されます。Auto Scaleにより、2秒以内でアイの中心を検出することができます。

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ビット・エラー・レート・テスタ－ BitAlyzer® BAシリーズ

このユーザ・データ・パターンの例は、入力データ・ストリームから取込まれ、出力データ・シーケンスとしてパターン・ジェネレータに送られる前にマニュアルで変更されている

ユーザ・パターン・エディタ

ジェネレータやディテクタ・パターン・メモリのユーザ・データ・パターンは、内蔵のパターン・エディタで生成、変更することができます。データは、エラー・ディテクタ入力からパターン・エディタに取込み、リファレンス・パターンを生成することができます。パターン・エディタは、PRBSキーワード、繰返しループ、変数割り当てをサポートします。16進、10進、バイナリに対応します。

パターン・ファイルはWindows NTファイル・システムに保存され、ネットワーク・インタフェースからインポートしたり、アクセスしたりすることができます。パターンは、BA1500 型とBA1600型で共有することができます。

エラー・ログ

BERモニタリングの一般的なアプリケーションでは、エラー測定や、拡張テストにおける目立ったイベントのロギングが必要になります。BA1500型、BA1600型には内蔵のロギング機能があり、ユーザによって設定された間隔においてプログラム可能なスレッショルドよりも悪いBERの値をログするように設定することができます。BERの値のモニタリングの他に、同期損失または設定のロギングも行えます。ログ・ファイルは印刷または保存でき、システム性能を検証していつエラーが発生したかを簡単に確認することができます。

わかりやすいBERログのユーザ・インタフェース。BERスレッショルドを設定し、何をログするのかを定義する。ログ間隔は、DetectorビューでBERを測定する場合の間隔と同じ

個々のエラー・レートとバースト・エラーに対するビット・カウントは、Basic BERビューに表示される。シンプルに分離することでデバッグに集中できる

基本的なBER統計

エラー位置解析は当社特許の手法であり、PCの処理により、テストで検出されたエラーの位置を正確に特定します。 BitAlyzerは、正確なビットの位置から、シンプルなエラー・レートによる方法よりも優れたエラーの依存性と関連性を明らかにします。

個別のビットとバーストのエラー統計表もモニタし、バースト・イベントの数、エラー・カウント、エラー・レートを確認することができます。すべてのエラー位置解析データは、リアルタイムに解析したり、内蔵のハード・ディスクに保存して後から解析したりすることもできます。解析エンジンは、ファイル名、エラー記録モードなどを設定することもできます。

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データ・シート

ストリップ・チャートでわかりやすく表示されるビット・エラー・レートのトレンド。サーマル・サイクルまたは熱変化条件による通信への影響がトラッキングできる

BERのストリップ・チャート

エラー・レートの考察では、トレンドが非常に重要になります。時間に対する測定変化のモニタには、ストリップ・チャートが広く使われています。BitAlyzerには内蔵のストリップ・チャート機能があり、時間に対するビット、バースト、トータル・エラー・レートの変化を観測することができます。時間軸の速度は、各ビット・エラー・レート測定に含まれるビット数によって設定することができます。また、表示のズーム・レベルも設定できます。

低い頻度で発生する繰返しエラーは、この表示で判断することができます。例えば、6秒おきに発生するバースト・エラーなどは簡単に特定できます。ストリップ・チャートは、ライブ・エラー・データまたは保存されたエラー・データ・セットで機能します。

エラーフリー間隔

エラーフリー間隔解析では、被測定システムで発生するさまざまなエラーフリー間隔の頻度を観測することができます。他よりも多くエラーフリー間隔が発生する場合、ランダムなエラーというよりはシステム的なエラーと見ることができます。同時に、繰返しのエラーフリー間隔は干渉の頻度を示し、何が意図しないエラーと相関関係にあるのかを知ることができます。

エラーフリー間隔の情報は短時間に蓄積できるため、膨大なデータを取込まなかったり、エラー障害の分離のために長いテストを行ったりしません。BA1500型、BA1600型のエラーフリー間隔アナライザは、ヒストグラム・ビューの開始ポイント、終了ポイントを設定することで、短い、または長いエラーフリー間隔の測定を設定することができます。

繰返し性のあるエラーフリー間隔は、システム・エラーであることがわかる。このようなスパイクの検出により、干渉周波数がすばやくわかる

この例では、127ビットのPRBS7パターンが使用され、検出されたエラーがデータ・パターンに大きく関係していることがわかる。ヒストグラムの下に表示されるNRZデータは、カーソル位置でのデータ・ビットを示している

パターン感度

パターン感度解析は、データ依存性のエラー特定に有効な方法です。このヒストグラムは、使用されるテスト・パターンのビット・ポジションごとのエラー数を示しています。テスト・パターンは、内蔵のPRBSパターンまたはユーザ定義のパターンが使用できます。カーソルは、パターン依存性のエラーの位置およびその周辺のデータ値を知るために使用します。

長いPRBSパターンによる拡張テストは、わずかなエラーで失敗することがあります。この解析方法を使用すると、すべてのエラーがテスト・パターンの同じビット・シーケンスが原因で発生するものか、またはパターン内でランダムに分布するものかが簡単にわかります。

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