Siemens KOM2100BF, KOM2100B Datasheet

KOM 2100 B KOM 2100 BF
6fach-Silizium-PIN-Fotodiodenarray 6-Chip Silicon PIN Photodiode Array
KOM 2100 B KOM 2100 BF
feo06529
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Speziell geeignet für Anwendungen im
Bereich von 400 nm bis 1100 nm (KOM 2100 B) und bei 880 nm (KOM 2100 BF)
Kurze Schaltzeit (typ. 13 ns)
Kathode = Chipunterseite
Geeignet für Diodenbetrieb (mit
Vorspannung) und Elementbetrieb
SMT-fähig
Anwendungen
Universell, z.B. Drehwinkelgeber
Typ Type
Bestellnummer Ordering Code
Features
Especially suitable for applications from
400 nm to 1100 nm (KOM 2100 B) and of 880 nm (KOM 2100 BF)
Short switching time (typ. 13 ns)
Cathode = back contact
Available as photodiode with reverse
voltage or photovoltaic cell
Suitable for SMT
Applications
General-purpose, e.g. encoders
Gehäuse Package
KOM 2100 B Q62702-K35 Platine mit SMT-Flanken, Abdeckrahmen mit KOM 2100 BF Q62702-K34
klarem bzw. schwarzem Epoxyverguß pcb with SMT flanks, cover frame sealed with
transparent or black epoxy
feof6529
Semiconductor Group 469
10.95
Grenzwerte Maximum Ratings
KOM 2100 B KOM 2100 BF
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur
Symbol Symbol
T
; T
A
stg
Operating and storage temperature range Sperrspannung
V
R
Reverse voltage Verlustleistung,
= 25 °C
A
P
tot
T
Total power dissipation
Kennwerte (
T
= 25 °C, λ = 950 nm) für jede Einzeldiode
A
Characteristics (TA = 25 °C, λ = 950 nm) per single diode Bezeichnung
Description
Sym­bol
Wert Value
KOM 2100 B KOM 2100 BF
Fotoempfindlichkeit
S
9 (7) 8.5 (6.6) µA
Spectral sensitivity
V
= 5 V, Ee = 0.5 mW/cm
R
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
2
λ
S max
870 870 nm
Wavelength of max. sensitivity
Wert Value
Einheit Unit
– 40 ... + 80 °C
20 V
150 mW
Einheit Unit
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10% von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10% of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfinlichen Fläche Dimensions of radiant sensitive area
Abstand Chipoberfläche zu Verguβober­fläche Distance chip front to case seal
Halbwinkel Half angle
Dunkelstrom,
V
= 10 V
R
Dark current Spektrale Fotoempfindlichkeit
Spectral sensitivity
λ 400 ... 1100 730 ... 1100 nm
A 2.5 2.5 mm
L × B
× W
L H
ϕ±60 ± 60 Grad
I
R
S
λ
1 × 2.5 1 × 2.5 mm x mm
0.4 ... 0.6 0.4 ... 0.6 mm
deg.
1 (10) 1 (10) nA
0.68 0.64 A/W
2
Semiconductor Group 470
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