Seiko S-8261 User Manual

S-8261系列

www.sii-ic.com

© Seiko Instruments Inc., 2001-2010 Rev.5.0_00

1节电池用电池保护IC

S-8261系列内置高精度电压检测电路和延迟电路，是用于锂离子/锂聚合物可充电电池的保护IC。
本IC最适合于对1节锂离子/锂聚合物可充电电池组的过充电、过放电和过电流的保护。

■ 特点

(1) 内置高精度电压检测电路

· 过充电检测电压 3.9 V ~ 4.4 V(进阶单位为5 mV) 精度±25 mV(25°C)、

· 过充电滞后电压 0.1 V ~ 0.4 V
过充电滞后电压可以在0.1 V ~ 0.4 V的范围内，以50 mV为进阶单位进行选择

· 过放电检测电压 2.0 V ~ 3.0 V(进阶单位为10 mV) 精度±50 mV

· 过放电滞后电压 0.0 V ~ 0.7 V
过放电滞后电压可以在0.0 V ~ 0.7 V的范围内，以100 mV为进阶单位进行选择

· 过电流1检测电压 0.05 V ~ 0.3 V(进阶单位为10 mV) 精度±15 mV

· 过电流2检测电压 0.5 V(固定) 精度±100 mV

(2) 连接充电器的端子采用高耐压器件 (VM 端子、CO 端子：绝对最大额定值 = 28 V)
(3) 各种延迟时间只需由内置电路来实现(过充电：tCU、过放电：tDL、过电流 1：t

(不需外接电容) 精度±20%

(4) 内置三段过电流检测电路(过电流 1、过电流 2、负载短路)
(5) 可以选择向 0 V 电池充电功能的“可能”/“禁止”
(6) 可以选择休眠功能的“有”/“无”
(7) 可充电器检测功能、异常充电电流检测功能

· 根据检测VM端子的负电压(典型值−0.7 V) 而解除过放电滞后(充电器检测功能)。

· 当DO端子电压处于高电位(High)，VM端子电压低于充电器检测电压(典型值−0.7 V) 时，CO端子的输出将被设置于
低电位(Low)(异常充电电流检测功能)。

(8) 低消耗电流

· 工作状态时 典型值3.5 μA 最大值7.0 μA

· 休眠状态时 最大值0.1 μA

(9) 宽工作温度范围 −40°C ~ +85°C
(10)

无铅、Sn 100%、无卤素*3

*1.

过充电解除电压 = 过充电检测电压−过充电滞后电压(但是，当过充电解除电压<3.8 V时不能选择)

*2.

过放电解除电压 = 过放电检测电压＋过放电滞后电压(但是，过放电解除电压>3.4 V时不能选择)

*3.

详情请参阅“ 产品型号的构成”。

*1

精度±25 mV

*2

±30 mV(−5°C ~ +55°C)

精度±50 mV

、过电流 2：t

IOV1

IOV2

)

■ 用途

·锂离子可充电电池组

·锂聚合物可充电电池组

■ 封装

·SOT-23-6

精工电子有限公司 1

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 框图

Rev.5.0_00

DP

控制输出电路

向 0 V 电池充电可能

DO

CO

VM

R

VMD

R

VMS

或充电禁止电路

＋

－

负载短路检测比较器

备注 图中的二极管全部为寄生二极管。

充电器

检测电路

＋

－

过电流 1 检测比较器

＋

－

过电流 2 检测比较器

分频器

控制逻辑

振荡器

控制逻辑

过充电检测
比较器

VDD

＋

－

过放电检测
比较器

＋

－

VSS

图1

2

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

S-8261系列

■ 产品型号的构成

1. 产品名

S-8261A xx MD − xxx T2 x

环保标记
U : 无铅 (Sn 100%)、无卤素
G : 无铅 (详情请向本公司营业部咨询)

*1

卷带规格中的 IC 置向

T2 : SOT-23-6

产品简称

封装简称

序列号

*2

MD : SOT-23-6

按AA ~ ZZ顺序设定

*1. 请参阅卷带图。

*2. 请参阅“3. 产品名目录”。

2. 封装

封装名

SOT-23-6 MP006-A-P-SD MP006-A-C-SD MP006-A-R-SD

封装图面 卷带图面 带卷图面

图面号码

精工电子有限公司 3

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

3. 产品名目录

表

Rev.5.0_00

1

]

过充电

滞后电压

[VHC]

过充电

产品名／项 目

S-8261AAGMD-G2GT2x
S-8261AAHMD-G2HT2x
S-8261AAJMD-G2JT2x
S-8261AALMD-G2LT2x
S-8261AAMMD-G2MT2x
S-8261AANMD-G2NT2x
S-8261AAOMD-G2OT2x
S-8261AAPMD-G2PT2x
S-8261AARMD-G2RT2x
S-8261AASMD-G2ST2x
S-8261AATMD-G2TT2x
S-8261AAUMD-G2UT2x

S-8261AAXMD-G2XT2x
S-8261AAZMD-G2ZT2x
S-8261ABAMD-G3AT2x
S-8261ABBMD-G3BT2x
S-8261ABCMD-G3CT2x
S-8261ABIMD-G3IT2x
S-8261ABJMD-G3JT2x
S-8261ABKMD-G3KT2x
S-8261ABLMD-G3LT2x
S-8261ABMMD-G3MT2x
S-8261ABNMD-G3NT2x
S-8261ABPMD-G3PT2x
S-8261ABRMD-G3RT2x
S-8261ABSMD-G3ST2x
S-8261ABTMD-G3TT2x
S-8261ABYMD-G3YT2x
S-8261ABZMD-G3ZT2x
S-8261ACAMD-G4AT2x
S-8261ACBMD-G4BT2x
S-8261ACDMD-G4DT2x
S-8261ACEMD-G4ET2x
S-8261ACFMD-G4FT2x
S-8261ACHMD-G4HT2x
S-8261ACIMD-G4IT2x
S-8261ACJMD-G4JT2x 4.275 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.15 V 可能 (1) 有

S-8261ACKMD-G4KT2x

S-8261ACMMD-G4MT2x
S-8261ACNMD-G4NT2x 4.215 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.13 V 禁止 (1) 有

*1. 延迟时间的组合项目中的（1）~（9），请参阅表2。

备注 1. 需要上述检测电压值以外的产品时，请向本公司营业部咨询。

2. x: G或U

3. 用户需要Sn 100%、无卤素产品时，请选择环保标记为“U”的产品。

检测电压

[V

CU

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.16 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.08 V

4.325 V 0.25 V 2.50 V 0.4 V 0.15 V

4.300 V 0.10 V 2.30 V 0 V 0.08 V

4.300 V 0.10 V 2.30 V 0 V 0.20 V

4.275 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.10 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.13 V

4.325 V 0.25 V 2.50 V 0.4 V 0.10 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.10 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.15 V

4.300 V 0.10 V 2.30 V 0 V 0.08 V

4.275 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.10 V

4.350 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.10 V

4.280 V 0.25 V 2.50 V 0.4 V 0.10 V

4.350 V 0.20 V 2.50 V 0 V 0.20 V

4.275 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.13 V

4.300 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.13 V

4.275 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.20 V

4.280 V 0.20 V 3.00 V 0 V 0.08 V

4.100 V 0.25 V 2.50 V 0.4 V 0.15 V

4.275 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.05 V

4.280 V 0.20 V 2.80 V 0 V 0.10 V

4.300 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.06 V

4.200 V 0.10 V 2.80 V 0.1 V 0.15 V

4.275 V 0.20 V 2.50 V 0.4 V 0.15 V

4.280 V 0.10 V 2.50 V 0.5 V 0.18 V

4.280 V 0.20 V 3.00 V 0.4 V 0.08 V

4.275 V 0.10 V 2.30 V 0.1 V 0.10 V

4.325 V 0.25 V 2.50 V 0.4 V 0.15 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.13 V

4.250 V 0.20 V 2.60 V 0.3 V 0.12 V

4.350 V 0.25 V 2.30 V 0.7 V 0.25 V

3.900 V 0.10 V 2.00 V 0.3 V 0.10 V

4.280 V 0.20 V 2.30 V 0 V 0.10 V

4.465 V 0.30 V 2.10 V 0 V 0.15 V

4.250 V 0.20 V 2.40 V 0.5 V 0.10 V

4.280 V 0.20 V 2.80 V 0 V 0.13 V

4.325 V 0.20 V 3.00 V 0.4 V 0.06 V

过放电

检测电压

[VDL]

过放电

滞后电压

[VHD]

过电流1

检测电压

[V

]

IOV1

向0 V电池的

充电功能

可能
可能
禁止
禁止
禁止
可能
禁止
禁止
可能
禁止
可能
可能
可能
禁止
可能
可能
可能
禁止
可能
禁止
禁止
可能
可能
禁止
禁止
禁止
可能
可能
禁止
禁止
禁止
可能
可能
可能
可能
可能

可能
禁止

延迟时间

*1

的组合

(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(2)
(3)
(4)
(4)
(1)
(4)
(1)
(1)
(5)
(1)
(1)
(5)
(1)
(1)
(1)
(1)
(1)
(5)
(6)
(6)
(6)
(1)
(7)
(1)
(8)
(9)
(1)

(1)

(1)

休眠
功能

有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
有
无
有
有
有
有
无

有
有

4

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

表2

S-8261系列

延迟时间的

组合

（1）
（2）
（3）
（4）
（5）
（6）
（7）
（8）
（9）

过充电检测

延迟时间

]

[t

CU

过放电检测

延迟时间

[tDL]

1.2 s 144 ms 9 ms 2.24 ms 320 μs

1.2 s 144 ms 4.5 ms 2.24 ms 320 μs

4.6 s 36 ms 18 ms 9 ms 320 μs

4.6 s 144 ms 9 ms 2.24 ms 320 μs

1.2 s 36 ms 9 ms 2.24 ms 320 μs

1.2 s 144 ms 9 ms 1.12 ms 320 μs

1.2 s 290 ms 18 ms 2.24 ms 320 μs

1.2 s 144 ms 18 ms 2.24 ms 320 μs

0.3 s 36 ms 9 ms 1.12 ms 320 μs

过电流1检测延

迟时间

备注 可更改在下述范围内的延迟时间，请向本公司营业部咨询。

3

表

延迟时间
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

备注 粗线框内表示为标准产品的延迟时间。

记号 选择范围

t

0.15 s 1.2 s 4.6 s

CU

t

36 ms 144 ms 290 ms

DL

t

4.5 ms 9 ms 18 ms

IOV1

t

1.12 ms 2.24 ms

IOV2

t

SHORT

―

320 μs 600 μs

[t

IOV1

过电流2检测延

迟时间

]

[t

IOV2

]

负载短路检测延

备注

迟时间

[t

SHORT

]

从左项中选择
从左项中选择
从左项中选择

― 从左项中选择

从左项中选择

精工电子有限公司 5

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 引脚排列图

SOT-23-6

Top view

6

1 2 3

4 5

图2

引脚号 符号 描述

1
2
3
4
5
6 VSS

DO
VM
CO

DP

VDD

放电控制用FET门极连接端子(CMOS输出)
VM ~ VSS间的电压检测端子(过电流检测端子)

充电控制用FET门极连接端子(CMOS输出)
延迟时间测定用测试端子
正电源输入端子
负电源输入端子

表4

Rev.5.0_00

6

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

S-8261系列

■ 绝对最大额定值

表5

(除特殊注明以外:Ta = 25°C)

项 目 记号 适用端子 规 格 单位

VDD-VSS间输入电压
VM输入端子电压
CO输出端子电压
DO输出端子电压

容许功耗

工作环境温度
保存温度

*1. 基板安装时

[安装基板]

(1) 基板尺寸： 114.3 mm×76.2 mm×t1.6 mm

(2) 名称： JEDEC STANDARD51-7

注意 绝对最大额定值是指无论在任何条件下都不能超过的额定值。万一超过此额定值，有可能造成产品劣化等物理性

损伤。

(1) 基板安装时 (2) 基板未安装时

700

V

VDD VSS−0.3 ~ VSS+12 V

DS

V

VM VDD−28 ~ VDD+0.3 V

VM

V

CO VVM−0.3 ~ VDD+0.3 V

CO

V

DO VSS−0.3 ~ VDD+0.3 V

DO

P

D

T

opr

T

stg

―

―
―

250 (基板未安装时)

*1

650

−40 ~ +85 °C

−55 ~ +125 °C

mW
mW

600

600

500

) [mW]

D

400

300

200

容许功耗 (P

100

0

0

50

100

环境温度 (Ta) [°C]

150

图 3 封装容许功耗

500

400

) [mW]

D

300

200

容许功耗 (P

100

0

0

50

100

环境温度 (Ta) [°C]

150

精工电子有限公司 7

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 电气特性

1. 检测延迟时间以外(25°C)

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

检测电压

过充电检测电压

V

= 3.9 V ~ 4.4 V,

CU

进阶单位为5 mV

过充电滞后电压

V

= 0.1 V ~ 0.4 V,

HC

进阶单位为50 mV
过放电检测电压

V

= 2.0 V ~ 3.0 V,

DL

进阶单位为10 mV
过放电滞后电压

V

= 0.0 V ~ 0.7 V,

HD

进阶单位为100 mV
过电流1检测电压

V

= 0.05 V ~ 0.3 V,

IOV1

进阶单位为10 mV
过电流2检测电压
负载短路检测电压
充电器检测电压
输入电压・工作电压

VDD−VSS间工作电压
VDD−VM间工作电压

消耗电流 (备有休眠功能)
通常工作时消耗电流
休眠时消耗电流
消耗电流 (无休眠功能)
通常工作时消耗电流
过放电时消耗电流
输出电阻

CO端子电阻“H”

CO端子电阻“L”

DO端子电阻“H”

DO端子电阻“L”
VM内部电阻

VM−VDD间内部电阻
VM−VSS间内部电阻

向0 V电池的充电功能
开始向0 V电池充电充电器电压
禁止向0 V电池充电电池电压

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

―

VCU

Ta = −5°C ~ 55°C

VHC

VDL

VHD

V

IOV1

V

IOV2

V

SHORT

V

CHA

―

―

―

―

―
―
―

V

DSOP1

V

DSOP2

I

OPE

I

PDN

I

OPE

I

OPED

内部电路工作电压
内部电路工作电压

VDD = 3.5 V, VVM = 0 V 1.0 3.5 7.0 μA 5 2
VDD = VVM = 1.5 V

VDD = 3.5 V, VVM = 0 V 1.0 3.5 7.0 μA 5 2

VDD = VVM = 1.5 V 1.0 3.0 5.5 μA 5 2

= 3.0 V, VDD = 3.5 V,

V

R

COH

R

COL

R

DOH

R

DOL

CO

= 0 V

V

VM

= 0.5 V, VDD = 4.5 V,

V

CO

= 0 V

V

VM

= 3.0 V, VDD = 3.5 V,

V

DO

= 0 V

V

VM

= 0.5 V,

V

DO

= VVM = 1.8 V

V

DD

R

VDD = 1.8 V, VVM = 0 V 100 300 900 kΩ 6 3

VMD

R

VDD = 3.5 V, VVM = 1.0 V 10 20 40 kΩ 6 3

VMS

V
V

0CHA

0INH

向0 V电池充电功能“可能”
向0 V电池充电功能“禁止” ― ―

*1

表6

Rev.5.0_00

(除特殊注明以外：Ta = 25°C)

测定条件测定

电路

V

CU

−0.025
V

CU

−0.030

V

HC

−0.025

V

DL

−0.050

V

HD

−0.050

V

IOV1

−0.015

V

V

V

V

V

V

CU

CU

HC

DL

HD

IOV1

0.4 0.5 0.6 V 3 2

0.9 1.2 1.5 V 3 2

−1.0 −0.7 −0.4 V 4 2

1.5

1.5

―
―

― ―

2.5 5 10 kΩ 7 4

2.5 5 10 kΩ 7 4

2.5 5 10 kΩ 8 4

2.5 5 10 kΩ 8 4

1.2

― ―

V

CU

+0.025

V

CU

+0.030

V

HC

+0.025

V

DL

+0.050

V

HD

+0.050

V

IOV1

+0.015

V 1 1

V 1 1

V 1 1

V 2 2

V 2 2

V 3 2

8 V

28 V

0.1 μA 5 2

V 11 2

0.5 V 12 2

― ―
― ―

8

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

2. 检测延迟时间以外(−40°C ∼ +85°C*1)

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

检测电压
过充电检测电压

V

= 3.9 V ~ 4.4 V,

CU

进阶单位为5 mV
过充电滞后电压

V

= 0.1 V ~ 0.4 V,

HC

进阶单位为50 mV
过放电检测电压

V

= 2.0 V ~ 3.0 V,

DL

进阶单位为10 mV
过放电滞后电压

V

= 0.0 V ~ 0.7 V,

HD

进阶单位为100 mV
过电流1检测电压

V

= 0.05 V ~ 0.3 V,

IOV1

进阶单位为10 mV
过电流2检测电压
负载短路检测电压
充电器检测电压
输入电压・工作电压

VDD−VSS间工作电压
VDD−VM间工作电压

消耗电流 (备有休眠功能)
通常工作时消耗电流
休眠时消耗电流
消耗电流 (无休眠功能)
通常工作时消耗电流
过放电时消耗电流
输出电阻

CO端子电阻“H”

CO端子电阻“L”

DO端子电阻“H”

DO端子电阻“L”
VM内部电阻

VM−VDD间内部电阻
VM−VSS间内部电阻

向0 V电池的充电功能
开始向0 V电池充电充电器电压
禁止向0 V电池充电电池电压

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

VCU

VHC

VDL

VHD

V

IOV1

V

IOV2

V

SHORT

V

CHA

―

―

―

―

―

―
―
―

V

DSOP1

V

DSOP2

I

OPE

I

PDN

I

OPE

I

OPED

内部电路工作电压
内部电路工作电压

VDD = 3.5 V, VVM = 0 V 0.7 3.5 8.0 μA 5 2
VDD = VVM =1.5 V

VDD =3.5 V, VVM =0 V 0.7 3.5 8.0 μA 5 2

VDD = VVM = 1.5 V 0.7 3.0 6.0 μA 5 2

= 3.0 V, VDD = 3.5 V,

V

R

COH

R

COL

R

DOH

R

DOL

CO

= 0 V

V

VM

= 0.5 V, VDD = 4.5 V,

V

CO

= 0 V

V

VM

= 3.0 V, VDD = 3.5 V,

V

DO

= 0 V

V

VM

= 0.5 V,

V

DO

= VVM = 1.8 V

V

DD

R

VDD = 1.8 V, VVM = 0 V 78 300 1310 kΩ 6 3

VMD

R

VDD = 3.5 V, VVM = 1.0 V 7.2 20 44 kΩ 6 3

VMS

V
V

0CHA

0INH

向0 V电池充电功能“可能”
向0 V电池充电功能“禁止” ― ―

表7

(除特殊注明以外：Ta = −40°C ~ +85°C

V

CU

−0.055

V

HC

−0.025

V

DL

−0.080

V

HD

−0.050

V

IOV1

−0.021

V

V

V

V

V

CU

HC

DL

HD

IOV1

V

CU

+0.040

V

HC

+0.025

V

DL

+0.080

V

HD

+0.050

V

IOV1

+0.021

0.37 0.5 0.63 V 3 2

0.7 1.2 1.7 V 3 2

−1.2 −0.7 −0.2 V 4 2

1.5

1.5

― ―

―
―

8 V

28 V

0.1 μA 5 2

1.2 5 15 kΩ 7 4

1.2 5 15 kΩ 7 4

1.2 5 15 kΩ 8 4

1.2 5 15 kΩ 8 4

1.7

― ―

0.3 V 12 2

S-8261系列

测定条件测定

V 1 1

V 1 1

V 2 2

V 2 2

V 3 2

― ―
― ―

V 11 2

电路

*1

)

精工电子有限公司 9

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

3. 检测延迟时间

(1) S-8261AAG, S-8261AAH, S-8261AAJ, S-8261AAL, S-8261AAM, S-8261AAN, S-8261AAO, S-8261AAP,

S-8261AAR, S-8261AAZ, S-8261ABB, S-8261ABC, S-8261ABJ, S-8261ABK, S-8261ABM, S-8261ABN,
S-8261ABP, S-8261ABR, S-8261ABS, S-8261ACB, S-8261ACE, S-8261ACI, S-8261ACK, S-8261ACM,
S-8261ACJ, S-8261ACN

Rev.5.0_00

表8

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

(2) S-8261AAS

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.96 1.2 1.4 s 9 5
115 144 173 ms 9 5

7.2 9 11 ms 10 5

1.8 2.24 2.7 ms 10 5

220 320 380 μs 10 5

―
―
―
―
―

0.7 1.2 2.0 s 9 5
80 144 245 ms 9 5

5 9 15 ms 10 5

1.2 2.24 3.8 ms 10 5

150 320 540 μs 10 5

表9

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.96 1.2 1.4 s 9 5
115 144 173 ms 9 5

3.6 4.5 5.4 ms 10 5

1.8 2.24 2.7 ms 10 5

220 320 380 μs 10 5

―
―
―
―
―

0.7 1.2 2.0 s 9 5
80 144 245 ms 9 5

2.5 4.5 7.7 ms 10 5

1.2 2.24 3.8 ms 10 5

150 320 540 μs 10 5

10

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

(3) S-8261AAT

表10

S-8261系列

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

(4) S-8261AAU, S-8261AAX, S-8261ABA

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位 条件

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

3.7 4.6 5.5 s

9
29 36 43 ms 9 5
14 18 22 ms 105

7.2 9 11 ms 105

220 320 380 μs

10

5

5

―
―
―
―
―

表11

―
―
―
―
―

2.5 4.6 7.8 s

9
20 36 61 ms 9 5
10 18 31 ms 105

5 9 15 ms 105

150 320 540 μs

10

测定
电路

3.7 4.6 5.5

115 144 173

7.2 9 11

1.8 2.24 2.7

220 320 380

s 9 5
ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

5

5

―
―
―
―
―

2.5 4.6 7.8 s
80 144 245

5 9 15

1.2 2.24 3.8

150 320 540

ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

5

9

精工电子有限公司 11

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

(5) S-8261ABI, S-8261ABL, S-8261ABT

Rev.5.0_00

表12

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

(6) S-8261ABY, S-8261ABZ, S-8261ACA

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.96 1.2 1.4
29 36 43

7.2 9 11

1.8 2.24 2.7

220 320 380

s 9 5
ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

―
―
―
―
―

表13

―
―
―
―
―

―
―
―
―
―

0.7 1.2 2.0
20 36 61

5 9 15

1.2 2.24 3.8

150 320 540

0.96 1.2 1.4
115 144 173

7.2 9 11

0.89 1.12 1.35
220 320 380

0.7 1.2 2.0
80 144 245

5 9 15

0.61 1.12 1.91
150 320 540

s 9 5
ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

测定条件测定

电路

s 9 5
ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

s 9 5
ms 9 5
ms 10 5
ms 10 5

μs 10 5

12

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

(7) S-8261ACD

表14

S-8261系列

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

(8) S-8261ACF

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.96 1.2 1.4 s 9 5
232 290 348 ms 9 5

14 18 22 ms 10 5

1.8 2.24 2.7 ms 10 5

220 320 380 μs 10 5

―
―
―
―
―

0.7 1.2 2.0 s 9 5

160 290 493 ms 9 5

10 18 31 ms 10 5

1.2 2.24 3.8 ms 10 5

150 320 540 μs 10 5

表15

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.96 1.2 1.4
115 144 173

s 9 5

ms 9 5

14 18 22 ms 10 5

1.8 2.24 2.7 ms 10 5

220 320 380

μs 10 5

―
―
―
―
―

0.7 1.2 2.0
80 144 245

s 9 5

ms 9 5

10 18 31 ms 10 5

1.2 2.24 3.8 ms 10 5

150 320 540

μs 10 5

精工电子有限公司 13

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

(9) S-8261ACH

Rev.5.0_00

表16

项目 记号 条件 最小值 典型值 最大值 单位

延迟时间 (Ta = 25°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间
延迟时间 (Ta = −40°C ~ +85°C)
过充电检测延迟时间
过放电检测延迟时间
过电流1检测延迟时间
过电流2检测延迟时间
负载短路检测延迟时间

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1

t

CU

t

DL

t

IOV1

t

IOV2

t

SHORT

*1. 以上温度范围系设计保证值，非高低温的实测筛选。

测定条件测定

电路

―
―
―
―
―

0.24 0.3 0.36 s 9 5
29 36 43 ms 9 5

7.2 9 11 ms 10 5

0.89 1.12 1.35 ms 10 5

220 320 380 μs 10 5

―
―
―
―
―

0.17 0.3 0.51 s 9 5
20 36 61 ms 9 5

5 9 15 ms 10 5

0.61 1.12 1.91 ms 10 5

150 320 540 μs 10 5

14

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

S-8261系列

■ 测定电路

注意 在未经特别说明的情况下，CO和DO端子的输出电压V

V)为基准。此时的CO端子请以V

为基准，DO端子请以VSS为基准来判定。

VM

(1) 测定条件1、测定电路1
(过充电检测电压、过放电滞后电压)

CO、VDO

的“H”、“L”的判定是以Nch FET的阈值电压(1.0

在V1 = 3.5 V设定后的状态下，将V1逐渐提升至V
然后，将V1逐渐降至V

)。

压(V

HC

= “L”→“H”时的VDD－VSS间电压与过充电检测电压(VCU) 之间的差异即为过充电滞后电

CO

= “H”→“L”时的VDD－VSS间电压即为过充电检测电压(VCU)。

CO

(2) 测定条件2、测定电路2
(过放电检测电压、过放电滞后电压)

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V1逐渐降至V

)。然后，将V1逐渐提升至VDO = “L”→“H”时的VDD－VSS间电压与过放电检测电压(VDL) 之间的差异即为过

压(V

DL

放电滞后电压(V

HD

)。

= “H”→“L”时的VDD－VSS间电压即为过放电检测电

DO

(3) 测定条件3、测定电路2
(过电流1检测电压、过电流2检测电压、负载短路检测电压)

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2在瞬间(10 μs以内)提升至V

DO

延迟时间的最小值和最大值的之间的范围内时，VM－VSS间电压即为过电流1检测电压(V
在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2在瞬间(10 μs以内)提升至V

DO

延迟时间的最小值和最大值之间的范围内时，VM－VSS间电压即为过电流2检测电压(V
在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2在瞬间(10 μs以内)提升至V

DO

路延迟时间的最小值和最大值之间的范围内时，VM－VSS间电压即为负载短路检测电压(V

(4) 测定条件4、测定电路2
(充电器检测电压 (= 异常充电电流检测电压) )

= “H”→“L”之间的延迟时间在过电流1

)。

IOV1

= “H”→“L”之间的延迟时间在过电流2

)。

IOV2

= “H”→“L”之间的延迟时间在负载短

)。

SHORT

在V1 = 1.8 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V1逐渐提升，设定V1 = V
= “L”→“H”时， VM－VSS间电压即为充电器检测电压(V

充电器检测电压的测定仅限于过放电滞后V

≠0的产品。

HD

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2逐渐降至V
测电压。异常充电电流检测电压和充电器检测电压(V

)。

CHA

CO

) 为相同值。

CHA

= “H”→“L”时，VM－VSS间电压即为异常充电电流检

(5) 测定条件5、测定电路2
(通常工作时消耗电流、休眠时消耗电流、过放电时消耗电流)

<备有休眠功能的产品>

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态(通常状态)下，流经VDD端子的电流I
在V1 = V2 = 1.5 V设定后的状态(过放电状态)下，流经VDD端子的电流I
<无休眠功能的产品>
在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态(通常状态)下，流经VDD端子的电流I
在V1 = V2 = 1.5 V设定后的状态(过放电状态)下，流经VDD端子的电流I

+(VHD / 2) ，之后将V2从0 V逐渐降至VDO

DL

即为通常工作时消耗电流(I

DD

即为休眠时消耗电流(I

DD

即为通常工作时消耗电流(I

DD

即为过放电时消耗电流(I

DD

PDN

)。

OPED

OPE

OPE

)。

)。

)。

精工电子有限公司 15

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

(6) 测定条件6、测定电路3
(VM－VDD间内部电阻、VM－VSS间内部电阻)

Rev.5.0_00

在V1 = 1.8 V、V2 = 0 V设定后的状态下，VM－VDD间电阻即为VM－VDD间内部电阻(R
在V1 = 3.5 V、V2 = 1.0 V设定后的状态下，VM－VSS间电阻即为VM－VSS间内部电阻(R

(7) 测定条件7、测定电路4
(CO端子“H”电阻、CO端子“L”电阻)

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V、V3 = 3.0 V设定后的状态下，CO端子电阻即为CO端子H电阻(R
在V1 = 4.5 V、V2 = 0 V、V3 = 0.5 V设定后的状态下，CO端子电阻即为CO端子L电阻(R

(8) 测定条件8、测定电路4
(DO端子电阻“H”、DO端子电阻“L”)

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V、V4 = 3.0 V设定后的状态下，DO端子电阻即为DO端子H电阻(R
在V1 = 1.8 V、V2 = 0 V、V4 = 0.5 V设定后的状态下，DO端子电阻即为DO端子L电阻(R

(9) 测定条件9、测定电路5
(过充电检测延迟时间、过放电检测延迟时间)

在V2 = 0 V设定后的状态下，将V1从过充电检测电压(V

在“H”→“L”的时间即为过充电检测延迟时间(tCU)。

V，V

CO

在V2 = 0 V设定后的状态下，将V1从过放电检测电压(V

在“H”→“L”的时间即为过放电检测延迟时间(tDL)。

V，V

DO

)−0.2 V在瞬间(10 μs以内)升至过充电检测电压(VCU)+0.2

CU

)+0.2 V在瞬间(10 μs以内)降至过放电检测电压(VDL)－0.2

DL

(10) 测定条件10、测定电路5

VMD

DOH

DOL

VMS

COH

COL

)。

)。

)。

)。

)。

)。

(过电流1检测延迟时间、过电流2检测延迟时间、负载短路检测延迟时间、异常充电电流检测延迟时间)

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2从0 V瞬间(10 μs以内)升至0.35 V，V
流1检测延迟时间(t

IOV1

)。

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2从0 V瞬间(10 μs以内)升至0.7 V，V
流2检测延迟时间(t

IOV2

)。

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2从0 V瞬间(10 μs以内)升至1.6 V，V
短路检测延迟时间(t

SHORT

)。

DO

DO

DO

在V1 = 3.5 V、V2 = 0 V设定后的状态下，将V2从0 V瞬间(10 μs以内)降至−1.1 V，直至V
为异常充电电流检测延迟时间。异常充电电流检测延迟时间和过充电检测延迟时间的值为相同值。

(11) 测定条件11、测定电路2 (向0 V电池充电功能“可能”的产品)
(开始向0 V电池充电的充电器电压)

在V1 = V2 = 0 V设定后的状态，将V2逐渐降至V
电池充电的充电器电压(V

0CHA

)。

= “H”(VVM+0.1 V以上)时的VDD－VM间电压即为开始向0 V

CO

(12) 测定条件12、测定电路2 (向0 V电池充电功能“禁止”的产品)
(禁止向0 V电池充电的电池电压)

在V1 = 0 V、V2 = −4 V设定后的状态下，将V1逐渐升至V
禁止向0 V电池充电的电池电压(V

0INH

)。

= “H”(VVM+0.1 V以上)时的VDD－VSS间电压即为

CO

成为“L”的时间即为过电

成为“L”的时间即为过电

成为“L”的时间即为负载

由“H”→“L”的时间即

CO

16

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

R1 =
470 Ω

VDD

DP

I

DD

VDD

A

DP

S-8261系列

V1

VSS

COM

I

DD

VDD

A

V1

VSS

COM

S-8261系列

DO

V

V

DO

测定电路1

S-8261系列

CO DO

测定电路3

CO

V

VM

VCO

DP

VM

I

A

VM

V2

V1

COM

V1

COM

VSS

VDD

VSS

S-8261系列

DO

V

V

DO

测定电路2

S-8261系列

DO

IDO

A

V4 V3

测定电路4

CO

V

CO

A

VM

VCO

DP

VM

ICO

V2

V2

V1

COM

VDD

S-8261系列

VSS

示波器 示波器

测定电路5

DP

VM

CO DO

V2

图4

精工电子有限公司 17

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 工作说明

备注 请参阅“■ 电池保护IC的连接例”。

1. 通常状态

本IC的作用是通过监视连接在VDD－VSS间的电池的电压及VM－VSS间的电压差而控制充电和放电。电池电压在过
放电检测电压(V
测电压(V

IOV1

种状态叫做通常状态。

注意 初次连接电池时，会有不能放电的状态。这时，短路VM端子和VSS端子，或连接充电器就能恢复到通常状

态。

2. 过电流状态 (过电流1、过电流2、负载短路检测)

在通常状态的电池放电状态下，由于放电电流在额定值以上，VM端子的电压在过电流检测电压以上且这个状态持续
在过电流检测延迟时间以上的场合，关闭放电控制用FET停止放电。这个状态叫做过电流状态。
在过电流状态中在IC内根据VM－VSS间内部电阻(R
端子的电压因负载而定，并成为V
本IC在EB+端子和EB−端子间(参阅图10的连接例)的阻抗达到自动恢复可能阻抗以上时，当本IC检测VM端子电位为过
电流1检测电压(V

注意 根据电池电压、过电流1检测电压的设定值的改变，自动恢复可能的阻抗是不同的。

3. 过充电状态

) 以上且在过充电检测电压(VCU) 以下，VM端子的电压在充电器检测电压(V

DL

) 以下的情况下，充电控制用FET和放电控制用FET的两方均打开。这时可以进行自由的充电和放电。这

电位。切断负载后VM端子复位至VSS电位。

DD

) 以下时即恢复到通常状态。

IOV1

Rev.5.0_00

)以上且在过电流1检

CHA

) 使VM－VSS端子间短路。但是，在接有负载的情况下，VM

VMS

通常状态的电池的电压在充电中超过过充电检测电压(VCU)，保持在过充电检测延迟时间(tCU) 以上时，关闭充电控制
用FET，停止充电。这个状态就叫做过充电状态。
过充电状态的解除，分为以下2种方法((1)、(2))。

(1) 电池电压降至过充电检测电压(V

)－过充电滞后电压(VHC) 以下时，打开充电控制用FET恢复到通常状态。

CU

(2) 加载负载开始放电时，打开充电控制用FET恢复至通常状态。加载负载放电开始后随即放电电流通过充电用FET

的内部寄生二极管流动。此时VM端子从VSS端子开始的只有内部寄生二极管的V
VM端子的电压在过电流1检测电压以上时，且电池电压低于过充电检测电压(V

电压上升。

f

) 以下的情况下，解除过充电状

CU

态。

注意1. 对于被充得超过过充电检测电压(V

)以下时，当电池电压低于过充电检测电压(VCU) 以下之前，过电流1、过电流2和负载短路的检测是不

(V

CU

) 的电池，即使连接过重负载，电池电压也不能降至过充电检测电压

CU

能发挥作用的。但实际的电池内部阻抗有数十 mΩ，当连接产生类似过电流那样的重负载时，由于电池电
压迅速降低所以过电流1、过电流2和负载短路的检测是可能的。

2. 在检测过充电后连接着充电器时，即使电池电压低于过充电解除电压(V
电器，VM端子电压高于充电器检测电压(V

) 时，才可解除过充电状态。

CHA

) 也不解除过充电状态。在断开充

CL

18

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

4. 过放电状态

<备有休眠功能时>

通常状态的电池电压如果在放电中处于过放电检测电压(V
上时，将关闭放电控制用FET，停止放电。这个状态叫作过放电状态。当关闭放电控制用FET后，VM端子由于IC内
部的VM－VDD内部电阻(R
时的消耗电流(I

休眠状态的解除是在连接着充电器，并且VM－VDD间电压差为典型值1.3 V以上时进行的。从这个状态电池电压进

一步增大到过放电检测电压(V

<无休眠功能时>

通常状态的电池电压如果在放电中处于过放电检测电压(V
上时，将关闭放电控制用FET，停止放电。这个状态叫作过放电状态。当关闭放电控制用FET后，VM端子由于IC内
部的VM－VDD内部电阻(R
放电状态回到通常状态。

5. 关于充电器的检测

) 而被上拉。当VM－VDD间电压差在典型值1.3 V以下时，本IC消耗电流将减少至休眠

VMD

) 。这个状态叫作休眠状态。

PDN

) 以上时，就打开FET从过放电状态回到通常状态。

DL

) 而被上拉。当电池电压进一步增大到过放电检测电压(VDL) 以上时，就打开FET从过

VMD

) 之下，并且保持这个状态在过放电检测延迟时间(tDL) 以

DL

) 之下，并且保持这个状态在过放电检测延迟时间(tDL) 以

DL

S-8261系列

在把过放电状态的电池和充电器连接时，如果VM端子电压低于充电器检测电压(V
滞后被解除，所以电池电压在过放电检测电压(V

) 以上时即可解除过放电状态，打开放电控制用FET。这个动作叫

DL

) ，由于充电器检测功能过放电

CHA

作充电器检测。
当过放电状态的电池和充电器连接时，如果VM端子电压不低于充电器检测电压(V
电压达到过放电解除电压(V

)＋过放电滞后电压(VHD) 以上才可解除过放电状态。

DL

) ，那么，如通常一样，当电池

CHA

6. 关于异常充电电流的检测

通常状态的电池在充电中如果VM端子电压低于充电器检测电压(V

)以上就关闭充电控制用FET停止充电。这个动作叫作异常充电电流检测。

(t

CU

DO端子电压“H”，且VM端子电压低于充电器检测电压(V

) 时，异常充电电流检测功能开始动作。因此，在过放电

CHA

状态的电池中有异常的充电电流时，电池电压达到过放电检测电压以上，由于DO端子电压为“H”，过充电检测延迟时

) 后关闭充电控制用FET停止充电。

间(t

CU

异常充电电流的检测状态，当VM－VSS间的电压差小于充电器检测电压(V

) ，并且这个状态持续在过充电检测延迟时间

CHA

) 时被解除。

CHA

精工电子有限公司 19

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

7. 关于延迟电路

各种检测延迟时间是将约3.5 kHz的时钟利用计数器分频而产生的。

备注 1. 过电流 2 检测延迟时间(t

开始的。因此，从检测出过电流 1 检测电压(V

)之后，当检测出过电流 2 检测电压(V

(t

SHORT

t

IOV2、tSHORT

DO 端子

)、负载短路检测延迟时间(t

IOV2

之内立即关闭放电控制用 FET。

V

DD

V

SS

)的计时是从检测出过电流 1 检测电压 (V

SHORT

)起到超过过电流 2 检测延迟时间(t

IOV1

)、负载短路检测电压(V

IOV2

tD

0 ≤ tD ≤ t

Rev.5.0_00

)、负载短路延迟时间

IOV2

)时，在检出时刻起分别在

SHORT

IOV2

IOV1

)时

VM 端子

2. <备有休眠功能时>

检测出过电流之后，如果不切断负载并且持续到过放电检测延迟时间(t
放电检测电压(V
以下时，在过电流的检出而关闭放电控制用 FET 之后，如果电池电压恢复缓慢，过放电检测延迟时间(t
后的电池电压仍处于过放电检测电压(V

<无休眠功能时>

检测出过电流之后，如果不切断负载并且持续到过放电检测延迟时间(t
放电检测电压(V

)以下时，在检测出过电流而关闭放电控制用FET之后，如果电池电压恢复缓慢，在过放电检测延迟时间

(V

DL

)之后的电池电压仍处于过放电检测电压(VDL)以下时，将会转变为过放电状态。

(t

DL

过电流 2 检测延迟时间（t

V

DD

V

IOV2

V

IOV1

V

SS

图5

)以下时，就会转变为休眠状态。另外，由于过电流导致电池电压降低到过放电检测电压(VDL)

DL

)以下时，将会转变为休眠状态。

DL

)以下时，将会转变为过放电状态。另外，由于过电流导致电池电压降低到过放电检测电压

DL

IOV2

）

)以上的情况下，当电池电压降低到过

DL

)以上的情况下，当电池电压降低到过

DL

Time

Time

)之

DL

20

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

8. 关于 DP 端子

DP端子是测定延迟时间的测试端子。
通常使用时，将DP端子设定为开路。
务请注意，如果将DP端子连接1000 pF以上的电容、1 MΩ以下的电阻时，将有可能造成延迟时间或各检测电压的误
差。

9. 关于向0 V电池充电功能“可能”

S-8261系列

对被连接的电池因自身放电，电压变为0 V时进行充电的功能。具有0 V电池充电开始充电器电压(V
充电器连接到EB+端子和EB−端子间后，充电控制用FET的门极电压将被固定在VDD端子电压。借助于充电器电压，
当充电控制用FET的门极和源极间电压达到翻转电压以上时，充电控制用FET将导通，开始充电。这时放电控制用

FET截止，充电电流通过放电控制用FET的内部寄生二极管流动。电池电压在过放电检测电压(V

)以上时回到通常状态。

(V

HD

注意 有被完全放电后不推荐再度充电的锂离子电池。这是由锂离子电池的特性决定的，所以当决定向0 V电池充电

功能“可能”、“禁止”时，请向电池厂商确认详细情况。

备注 对异常充电电流检测功能来说，0 V电池充电功能更具优先权。从而，向0 V电池充电功能<可能>的产品在电

池电压较低时会强制充电，务请注意这时不能检测异常充电电流。

)以上的电压的

0CHA

)＋过放电滞后电压

DL

10. 关于向0 V电池充电功能“禁止”

连接内部短路的电池(0 V电池)时，禁止充电的功能。电池电压在禁止向0 V电池充电的电池电压(V
控制用FET的门极被固定在EB−端子电压，禁止充电。当电池电压在禁止向0 V电池充电的电池电压(V
以充电。

注意 有被完全放电后不推荐再度充电的锂离子电池。这是由锂离子电池的特性决定的，所以当决定向0 V电池充电

功能“可能”、“禁止”时，请向电池厂商确认详细情况。

)以下时，充电

0INH

)以上时，可

0INH

精工电子有限公司 21

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 时序图

Rev.5.0_00

(1)

过充电检测、过放电检测

VCU

电池电压

V

CU−VHC

VDL+VHD
V

DL

VDD

D

O

端
子

VSS

VDD

C
O

端
子

V

SS

VDD

V
M

V

端
子

IOV1

VSS
V

CHA

充电器连接

负载连接

状态

过充电检测延迟时间(t

c

d

)

CU

过放电检测延迟时间(tDL)

c

e

c

(2)

： 通常状态 d： 过充电状态 e： 过放电状态 f： 过电流状态

备注 c

充电器指示定电流充电。

过电流检测

电池电压

D

O

端
子

C
O

端
子

V
M

端
子

充电器连接

负载连接

备注 c

充电器指示定电流充电。

VCU
V

CU−VHC

V

DL+VHD

V

DL

VDD

V

SS

V

DD

V

SS

V

DD

V

SHORT

V

IOV2

V

IOV1

V

SS

过电流 1 检测延迟时间(t

状态

： 通常状态 d ： 过充电状态 e ： 过放电状态 f： 过电流状态

④ ④①

)

IOV1

过电流 2 检测延迟时间(t

① ④

图6

图7

IOV2

)

①

负载短路检测延迟时间(t

SHORT

)

①

22

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

(3)

充电器检测

VCU

电池电压

V

V
V

VDD

D

O

端
子

V

C

O

端
子

V

M

端
子

充电器连接

负载连接

充电器指示定电流充电。

(4) 异常充电电流检测

− VHC

CU

+ VHD

DL
DL

SS

VDD

V

SS

V

DD

V

SS

V

CHA

VM 端子电压 < V

由过放电检测电压(V

状态

过放电检测延迟时间(t

①

)

DL

③

备注 c ： 通常状态 d ： 过充电状态 e ： 过放电状态 f ： 过电流状态

图8

的情况下，

CHA

)解除过放电

DL

①

S-8261系列

VCU

电池电压

− VHC

V

CU

V

+ VHD

DL

V

DL

V

DD

D

O

端
子

V

SS

V

DD

C

O

端

V

SS

子

V

DD

V

M

端

V

SS

子

V

CHA

充电器连接

负载连接

状态

过放电检测延迟时间(tDL)

①

异常充电电流检测延迟时间（＝过充电检测延迟时间(tCU)）

③

①

备注 c ： 通常状态 d ： 过充电状态 e ： 过放电状态 f ： 过电流状态

充电器指示定电流充电。

图9

②

①

精工电子有限公司 23

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

■ 电池保护IC的连接例

Rev.5.0_00

EB＋

R1 : 470 Ω

DP

电池

C1 :

0.1

VDD

μ

F

S-8261系列

VSS

DO

CO VM

FET1 FET2

R2 : 2 kΩ

EB－

图10

表17 外接元器件参数

记号 部件 目的 典型值 最小值 最大值 备注

*1

FET1

FET2

R1 电阻

Nch
MOS FET
Nch
MOS FET

放电控制 － － －

充电控制 － － －

ESD对策
电源变动对策

470 Ω 300 Ω 1 kΩ

C1 电容 电源变动对策 0.1 μF 0.022 μF1.0 μF

R2 电阻

*1.

使用的FET的阈值电压低的场合，有可能产生充电电流不能切断的情况。

充电器逆连接
对策

2 kΩ 300 Ω 4 kΩ

阈值电压≤过放电检测电压
门极和源极间耐压≥充电器电压
阈值电压≤过放电检测电压
门极和源极间耐压≥充电器电压
为了避免因消耗电流引起的过充电检测精度的
降低，请尽可能进取最小的数值。
请务必在VDD－VSS间加载0.022 μF以上的电

*4

容。
为控制充电器逆连接时的流经电流，请尽可能
进取最大的数值。

*5

*2

*1

*2

*3

使用的FET的阈值电压在过放电检测电压以上的场合，有可能产生过放电检测前停止放电的情况。

*2.

门极和源极间耐压在充电器电压以下的场合，FET有被破坏的可能。

*3.

在R1处加载大的电阻的场合，由于充电器逆连接电流从充电器流向IC，VDD－VSS间电压有超过最大额定值的情况。在

R1处为保护ESD请加载300 Ω以上的电阻。

*4.

如在C1处加载少于0.022 μF的电容，在负载短路检测时DO有可能发生振荡。所以一定要在C1处加载0.022 μF以上的电

容。

*5.

在R2上加载大于4 kΩ的电阻的场合，具有高电压的充电器被连接时有可能导致不能切断充电电流的情况。

注意1. 上述参数有可能不经预告而作更改。

2. 请勿在DP端子上连接。

3. 对上述连接例以外的电路未作动作确认, 且上述电池保护IC的连接例以及参数并不作为保证电路工作的依据。请在

实际的应用电路上进行充分的实测后再设定参数。

24

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

S-8261系列

■ 注意事项

· 请注意输入输出电压、负载电流的使用条件，使IC内的功耗不超过封装的容许功耗。

· 本IC虽内置防静电保护电路，但请不要对IC施加超过保护电路性能的过大静电。

· 使用本公司的IC生产产品时，如因其产品中对该IC的使用方法或产品的规格，或因进口国等原因，包含本IC产品在内的
制品发生专利纠纷时，本公司概不承担相应责任。

精工电子有限公司 25

1节电池用电池保护IC

[°C]

S-8261系列

■ 各种特性数据 (典型数据)

1. 检测／解除电压的温度特性

过充电检测电压－温度特性 过充电解除电压－温度特性

4.44

4.02

Rev.5.0_00

4.42

4.40

[V]

CU

4.38

V

4.36

4.34

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

过放电检测电压－温度特性 过放电解除电压－温度特性

3.04

3.02

3.00

[V]

DL

2.98

V

2.96

2.94

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

过电流1检测电压－温度特性 过电流2检测电压－温度特性

0.45

0.40

0.35

[V]

0.30

IOV1

0.25

V

0.20

4.00

3.98

[V]

CL

3.96

V

3.94

3.92

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta

3.44

3.42

3.40

[V]

DU

3.38

V

3.36

3.34

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

0.65

0.60

0.55

[V]

IOV2

0.50

V

0.45

0.15

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

负载短路检测电压－温度特性

1.5

0.40

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

1.4

[V]

1.3

1.2

SHORT

V

1.1

1.0

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

26

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

[°C]

Rev.5.0_00

2. 消耗电流的温度特性

S-8261系列

通常工作时消耗电流－温度特性

5

4

3

[μA]

2

OPE

I

1

0

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta

3. 消耗电流的电源电压特性(Ta = 25°C)

消耗电流－电源电压特性

6

5

4

[μA]

3

OPE

I

2

1

0

0 2 4 6 8 10 12

[V]

V

DD

4. 检测／解除延迟时间的温度特性

休眠时消耗电流－温度特性

0.10

0.08

0.06

[μA]

0.04

PDN

I

0.02

0

−50 100

−25 0 25 50 75

Ta [°C]

过充电检测延迟时间－温度特性

1.50

1.25

[s]

1.00

CU

t

0.75

0.50

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

过放电检测延迟时间－温度特性

200

180

160

[ms]

140

DL

t

120

100

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

过充电解除延迟时间－温度特性

60

50

40

[ms]

30

CL

t

20

10

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

精工电子有限公司 27

1节电池用电池保护IC
S-8261系列

过电流1检测延迟时间－温度特性 过电流2检测延迟时间－温度特性

15

3.4

Rev.5.0_00

13

11

[ms]

9

IOV1

t

7

5

−25 0 25 50 75

−50 100

负载短路检测电压－温度特性

0.40

0.36

0.32

[ms]

0.28

0.24

SHORT

t

0.20

0.16

−50

−25

0 25 50 75

5. 延迟时间的电源电压特性

Ta [°C]

Ta [°C]

(Ta = 25°C)

100

3.0

2.6

[ms]

2.2

IOV2

t

1.8

1.4

−25 0 25 50 75

−50 100

Ta [°C]

过电流1检测延迟时间－电源电压特性 过电流2检测延迟时间－电源电压特性

15

13

11

[V]

9

IOV1

t

7

5

2 2.5 3 3.5 4 4.5

[V]

V

DD

负载短路检测延迟时间－电源电压特性

0.32

3.4

3.0

2.6

[ms]

2.2

IOV2

t

1.8

1.4
2 2.5 3 3.5 4 4.5

[V]

V

DD

0.28

[ms]

0.24

SHORT

t

0.2

0.16

2.5 3 3.5 4 4.5
[V]

V

DD

28

精工电子有限公司

1节电池用电池保护IC

Rev.5.0_00

6. CO端子／DO端子的输出电流特性(Ta = 25°C)

CO端子源电流特性 VDD = 3.5 V, VM = VSS = 0 V CO端子吸收电流特性 VDD = 4.5 V, VM = VSS = 0 V

−0.5

0.5

S-8261系列

−0.4

−0.3

[mA]

−0.2

CO

I

−0.1

0

0 1 2 3 4

DO端子源电流特性 V

−0.5

−0.4

−0.3

[mA]

−0.2

DO

I

−0.1

0

0 1 2 3 4

0.4

0.3

[mA]

0.2

CO

I

0.1

0

0123 5

[V]

V

[V]

CO

= 3.5 V, VM = VSS = 0 V DO端子吸收电流特性 VDD = 1.8 V, VM = VSS = 0 V

DD

V

CO

4

0.5

0.4

0.3

[mA]

0.2

DO

I

0.1

0

00.51 2

V

[V]

DO

V

[V]

DO

1.5

精工电子有限公司 29

2.9±0.2

1.9±0.2

6

1

0.95

0.35±0.15

5

4

3

2

0.95

0.15

+0.1

-0.05

No. MP006-A-P-SD-1.1

TITLE

No.

SCALE

UNIT mm

SOT236-A-PKG Dimensions

MP006-A-P-SD-1.1

Seiko Instruments Inc.

4.0±0.1(10 pitches:40.0±0.2)

ø1.5

3.2±0.2

+0.1

-0

2.0±0.05

ø1.0

+0.2

-0

0.25±0.1

4.0±0.1

1.4±0.2

45

123

6

Feed direction

No. MP006-A-C-SD-3.1

TITLE

No.

SCALE

UNIT

SOT236-A-Carrier Tape

MP006-A-C-SD-3.1

mm

Seiko Instruments Inc.

12.5max.

Enlarged drawing in the central part

(60°) (60°)

ø13±0.2

No. MP006-A-R-SD-2.1

TITLE

No.

SCALE

UNIT mm

9.0±0.3

SOT236-A-Reel

MP006-A-R-SD-2.1

QTY

3,000

Seiko Instruments Inc.

www.sii-ic.com

• 本资料内容，随着产品的改进，可能会有未经预告的更改。

•

本资料所记载的设计图等因第三者的工业所有权而引发之诸问题，本公司不承担其责任。另外，应用电路示例为产品的代
表性应用说明，并非保证批量生产的设计。

• 本资料所记载产品，如属外汇交易及外国贸易法中规定的限制货物（或劳务）时，基于该法律规定，需得到日本国政府的

出口许可。

• 本资料内容未经本公司许可，严禁以其他目的加以转载或复制等。

• 本资料所记载的产品，未经本公司书面许可，不得作为健康器械、医疗器械、防灾器械、瓦斯关联器械、车辆器械、航空

器械及车载器械等对人体产生影响的器械或装置部件使用。

•

本公司致力于提高质量与信赖性，但是半导体产品有可能会有一定的概率产生故障或误工作。为防止因故障或误工作而产
生的人身事故、火灾事故、社会性损害等，请注意冗长设计、火势蔓延对策设计、防止误工作设计等安全设计。