Mastech MS5308 User Manual [ru]

ИНСТРУКЦИЯ ПО ЭКСПЛУАТАЦИИ MASTECH
Мостовой измеритель LCR, ESR
MS-5308
1. Общая информация
Благодарим Вас за приобретение цифрового RLC-измерителя
MS5308. Цифровой RLC-измеритель MS5308 – это профессио-
В то время как обычный мультиметр при измерении сопро­тивления обеспечивает только режим постоянного тока, прибор MS5308 позволяет работать в режимах как переменного, так и постоянного тока. В режиме переменного тока для лучшего соот­ветствия имеющимся потребностям при измерении индуктивно­сти, емкости и сопротивления в приборе предусмотрен набор различных тестовых частот вплоть до 100 КГц.
Правильная эксплуатация обеспечивает долгую надежную службу прибора. Прежде чем приступать к измерениям, внима­тельно прочитайте инструкцию и работайте с прибором в соот­ветствии с ее указаниями.
1.1. Описание передней панели
1. Дисплей
2. Область функциональных кнопок
3. Выключатель питания
4. ИК-порт
5. Гнездо кнопки калибровки
6. Гнездо DUT+
7. Гнездо DUT-
8. Гнездо GROUND (“земля”)
1.2. Осмотр прибора
При получении нового RLC-измерителя проверьте прибор и его принадлежности на наличие каких-либо повреждений или отсут­ствующих частей. Для их получения или замены свяжитесь с вашим дилером.
1.3. Принадлежности
- SMD тестовый пробник
- Зажим «крокодил» (1 пара)
- ИК-интерфейс передачи данных
- Компакт-диск с программным обеспечением
2. Правила безопасной работы
Условия окружающей среды:
Высота: <2000 м
Относительная влажность: 80%
Рабочие температуры: 0–40ºС
Примечание: При измерении емкости не допускается пода­вать напряжение на измерительный вход. Перед измерением разрядите емкости во избежание повреждения прибора!
Хранение и обслуживание: не используйте спирт и прочие растворители для очистки прибора от грязи. Если прибор не будет использоваться в течение долгого времени, выньте из него батарею и держите его в сухом и чистом месте.
3. Описание
3.1. Обозначения
APO: автоотключение
LCR: если на дисплее появился этот символ, это означает, что
прибор работает в режиме автоматической идентификации.
Lp: режим измерения индуктивности с параллельным соеди­нением
Ls: режим измерения индуктивности с последовательным соединением
Сp: режим измерения емкости с параллельным соединением
Сs: режим измерения емкости с последовательным соедине-
нием
Rp: режим измерения емкости с параллельным соединением
Rs: режим измерения емкости с последовательным соедине-
нием
DCR: режим измерения сопротивления постоянному току
D: тангенс угла потерь
Q: добротность
θθθθ: угол сдвига фазы
ESR: эквивалентное сопротивление
DUT: объект измерения
3.2. Описание параметров импеданса (см. Рисунок 1)
Z = Rs + jXs = |Z| θ
Rs- = |Z|Cosθ Xs = |Z|Sinθ Xs/Rs = Tanθ
θ = Tan-1 (Xs/Rs)
Рисунок 1
Если θ > 0, это значит, что измеряемый объект – индуктивность. Если θ < 0, измеряемый объект – емкость.
Precision MASTECH Enterprises Co. Гонконг MS-5308
MASTECH ИНСТРУКЦИЯ ПО ЭКСПЛУАТАЦИИ: MS-5308
3.3. Режимы последовательных и параллельных соединений
Данный прибор позволяет проводить измерения при последова­тельном и параллельном подключении. Если измеряемый объект обладает высокой емкостью или низкой индуктивностью, после­довательное подключение позволяет получить более точные результаты. Наоборот, когда емкость объекта мала, или индук­тивность велика, более точные результаты будут получены в режиме параллельного подключения. Прибор автоматически определяет режим измерения в соответствии с измеряемым объектом.
4. Описание функциональных характеристик
- Двойной жидкокристаллический дисплей (19999 отсчетовосновной, 1999 отсчетовдополнительный)
- Измерения сопротивления, емкости и индуктивности с авто-
матической идентификацией и автоматическим выбором предела измерения.
- Измерение R/L/C по отдельности (режим одиночных измере­ний).
- Измерение сопротивления в режиме постоянного тока.
- Отображение значений D/Q/θ/ESR на дополнительном дис­плее.
- Возможность выбора измерения с последовательным или параллельным подключением.
- Функция сравнения при одиночных измерениях.
- Возможность выбора тестовой частоты: 100Гц/120Гц/1 КГц/10 КГц/100 КГц в режиме переменного тока.
- Функция отбора измеренных компонентов в одной серии.
- Отображение заряда батареи, автоотключение в том случае,
если с прибором не производится операций в течение опреде­ленного времени.
- ИК-интерфейс передачи данных повышает надежность рабо­ты прибора (поддержка «горячего» подключения). Специальное программное обеспечение позволяет легко работать с прибором.
- Измерительные и точностные характеристики приведены в Таблицах 1 - 3.
Примечание:
Приведенные точности указаны для измерений с помощью гнез­да DUT. При необходимости также используются специальные измерительные щупы. Измерения с помощью щупов могут быть подвержены влиянию окружающей среды, которое может приве­сти к увеличению ошибок измерения или вовсе нарушить про­цесс измерения. Проводите измерения на частоте 100/120 Гц, если это требуется.
Таблица 1: Пределы измерения сопротивления. Режим измерения: Rs/R
Частота Предел Разрешение Погрешность
100Гц / 120Гц 200.00 Ом 0.01 Ом 1.0%+5
100Гц / 120Гц 2.0000 КОм 0.1 Ом 0.3%+5 100Гц / 120Гц 20.000 КОм 1 Ом 0.3%+5 100Гц / 120Гц 200.00 КОм 0.01 КОм 0.5%+5 100Гц / 120Гц 2.0000 МОм 0.1 КОм 1.0%+5 100Гц / 120Гц 20.000 МОм 1 КОм 1.0%+5 100Гц / 120Гц 200.00 МОм 0.1 МОм 2.0%+5
1 КГц 20.000 Ом 0.001 Ом 1.0%+5 1 КГц 200.00 Ом 0.01 Ом 0.3%+5 1 КГц 2.0000 КОм 0.1 Ом 0.3%+5 1 КГц 20.000 КОм 1 Ом 0.3%+5 1 КГц 200.00 КОм 0.01 КОм 0.5%+5 1 КГц 2.0000 МОм 0.1 КОм 1.0%+5 1 КГц 20.000 МОм 1 КОм 2.0%+5
1 КГц 200.0 МОм 0.1 МОм 5.0%+5 10 КГц 20.000 Ом 0.001 Ом 1.0%+5 10 КГц 200.00 Ом 0.01 Ом 0.5%+5 10 КГц 2.0000 КОм 0.1 Ом 0.3%+5 10 КГц 20.000 КОм 1 Ом 0.5%+5 10 КГц 200.00 КОм 0.01 КОм 1.0%+5
p
100 КГц 20.000 Ом 0.001 Ом 1.0%+5
100 КГц 200.00 Ом 0.01 Ом 1.0%+5 100 КГц 2.0000 КОм 0.1 Ом 1.0%+5 100 КГц 20.000 КОм 1 Ом 2.0%+5
Примечание: Указанные в таблице погрешности приведены для случая D<0,1. Если же D>0,1, их нужно умножить на (1+D2)
1/2
Таблица 2: Пределы измерения емкости. Режим измерения: Сs/Сp
Частота Предел Разрешение Погрешность
100Гц / 120Гц 20.000 нФ 1 пФ 1.0%+5
100Гц / 120Гц 200.00 нФ 0.01 нФ 0.5%+5 100Гц / 120Гц 2000.0 нФ 0.1 нФ 0.5%+5 100Гц / 120Гц 20.000 мкФ 1нФ 0.5%+5 100Гц / 120Гц 200.00 мкФ 0.01 мкФ 1.0%+5 100Гц / 120Гц 2000.0 мкФ 0.1 мкФ 2.0%+5 100Гц / 120Гц 20.00 мФ 0.1 мФ 2.0%+5
1 КГц 2000.0 пФ 0.1 пФ 1.0%+5 1 КГц 20.000 нФ 1 пФ 1.0%+5 1 КГц 200.00 нФ 0.01 нФ 0.5%+5 1 КГц 2000.0 нФ 0.1 нФ 0.5%+5 1 КГц 20.000 мкФ 1 нФ 0.5%+5 1 КГц 200.00 мкФ 0.01 мкФ 1.0%+5
1 КГц 2000.0 мкФ 0.1 мкФ 1.0%+5 10 КГц 200.00 пФ 0.01 пФ 1.0%+5 10 КГц 2000.0 пФ 0.1 пФ 1.0%+5 10 КГц 20.000 нФ 1 пФ 1.0%+5 10 КГц 200.00 нФ 0.01 нФ 1.5%+5 10 КГц 2000.0 нФ 0.1 нФ 2.0%+5
100 КГц 200.00 пФ 0.01 пФ 2.0%+5 100 КГц 2000.0 пФ 0.1 пФ 1.0%+5 100 КГц 20.000 нФ 1 пФ 2.0%+5 100 КГц 200.00 нФ 0.01 нФ 5.0%+5
Примечание: Указанные в таблице погрешности приведены для случая D<0,1. Если же D>0,1, их нужно умножить на (1+D2)
1/2
Таблица 3: Пределы измерения индуктивности. Режим измерения: Ls/Lp
Частота Предел Разрешение Погрешность
100Гц / 120Гц 20.000 мГн 1 мкГн 1.0%+5
100Гц / 120Гц 200.00 мГн 0.01 мГн 0.5%+5 100Гц / 120Гц 2000.0 мГн 0.1 мГн 0.5%+5 100Гц / 120Гц 20.000 Гн 1 мГн 0.5%+5 100Гц / 120Гц 200.00 Гн 0.01 Гн 1.0%+5 100Гц / 120Гц 2000.0 Гн 0.1 Гн 1.0%+5 100Гц / 120Гц 20.000 КГн 1 Гн 2.0%+5
1 КГц 2000.0 мкГн 0.1 мкГн 1.0%+5
1 КГц 20.000 мГн 1 мкГн 0.5%+5
1 КГц 200.00 мГн 0.01 мГн 0.5%+5
1 КГц 2000.0 мГн 0.1 мГн 1.0%+5
1 КГц 20.000 Гн 1 мГн 1.0%+5
1 КГц 200.00 Гн 0.01 Гн 2.0%+5
1 КГц 2000.0 Гн 0.1 Гн 5.0%+5 10 КГц 200.00 мкГн 0.01 мкГн 1.0%+5 10 КГц 2000.0 мкГн 0.1 мкГн 0.5%+5 10 КГц 20.000 мГн 1 мкГн 0.5%+5 10 КГц 200.00 мГн 0.01 мГн 1.5%+5 10 КГц 2000.0 мГн 0.1 мГн 2.0%+5 10 КГц 20.000 Гн 0.001 Гн 5.0%+5
100 КГц 20.000 мкГн 0.001 мкГн 1.0%+5 100 КГц 200.00 мкГн 0.01 мкГн 2.0%+5 100 КГц 2000.0 мкГн 0.1 мкГн 2.0%+5 100 КГц 20.000 мГн 1 мкГн 2.0%+5
Примечание: Указанные в таблице погрешности приведены для случая D<0,1. Если же D>0,1, их нужно умножить на (1+D2)
1/2
2
Loading...
+ 3 hidden pages