HIOKI 3522-50, 3532-50, 3535 User Manual

2004

3522-50/3532-50 / 3535 LCR测试仪

元器件测量仪器

基本精度±0.08%，测量频率可调: DC、1mHz~100kHz

最快5ms

3535

基本精度Z:±0.5%，θ；± 0.3°
宽频带100kHz~120MHz

9700-10　前置放大单元

(

3522-50/3532-50

功能向上！

3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的
内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能，应用范围广，例如芯片
互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535
拆离，使用指定电缆将其延伸，并尽可能接近被测物，以减小测量导
线的影响。
简易的操作和低廉的价格，赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。
无论是用于实验室评估运行特性，还是用于生产线，都是您的理想选
择。

(

3522-50)/42Hz~5MHz(3532-50

)

的高速LCR测试仪

宽频带、测量频率可调的3522/ 3532 LCR测试仪，
将测试速度提高到了5ms(是原有型号的4倍)。

3522-50可提供DC和1mHz~100kHz的测试频率，
3532-50的测试频带为42Hz~5MHz。能提供与元

器件工作条件更为接近的测试条件。

)

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3522-50/3532-50

两型号涵盖的

DC、1mHz~100kHz/42Hz~5MHz

宽频带范围

■测量广范围的电压和电流

除了可发生通常开路信号之外，此类仪器还可在恒压/恒流的模
式下，提供依赖于电压/ 电流的评估。信号电平设置范围
广：10mV~5Vrms/10μA~100mA（最高1MHz）。

■测量的同时进行测量条件的调整

测量频率、测量信号电平和其它测量条件，可在监测测量结果的
同时改变其设置，可发挥有效的事先测量及评估条件的设置。

3522-50/ 3532-50基本特性

■更宽范围的测量频率

3522-50的测量频率可设置成DC或1mHz~100kHz、3532-50
可设置成42Hz~5MHz、4位数分辨率的任意值。使得进一步接
近运作条件的测量、评估。

则

■触摸屏的对话型操作

操作极为简便： 只需触摸屏幕即可随意改变项目的设置，仅所需
项目依次被显示。采用前面简洁的触摸屏，省去了全部按键开关，
操作不再繁杂。

3522-50/3532-50/3535 LCR HiTESTER

测量频率（Hz）

■高分辨率和高精度

全5位显示的高分辨率测量，而且可进行基本精度是±0.08%的
高精度测量。

■最快5ms的高速测量

四种采样率可供选择:FAST/NORMAL/ SLOW/SLOW2。最快约5ms(显
示|Z|时)的快速采样，提高了生产线的效率。
(测试频率随测量参数的不同而不同)

■14种测量参数

可测量以下参数，并且通过计算机可以捕捉所选定的参数:|Z|、|Y|、
θ、 Rp(DCR*)、Rs(ESR,DCR*)、G、X、B、Lp、Ls、Cp、Cs、D(tanδ)和Q。
*DCR为3522-50仅有

■可存储30组测量条件

最多可存储包括比较条件在内的30组测量条件，为反复测量较
多的在线样品测试提供快速响应。因为内存中存储了多种测量

条件，所以可以连续进行5种不同测量。比较功能使单台仪器就
能提供逻辑AND输出。

■4种参数同时测量

从全参数中，可选择任意4种参数同时进行观察并显示。

■放大显示功能

最多4种参数可放大显示，这使在线测量值在一定距离的条件下
也能较为容易地读取。

■相关补偿功能

补偿系数a、b可按照以下补偿公式进行测量值的补偿。
补偿值＝ ａ×测量值＋ｂ

■打印输出

使用选件9442打印机，可以打印测量值、比较结果和屏幕画面。

■DC电阻测量 (*仅3522-50具有）

DC电阻测量是3522-50的另一个特性。只用一台3522-50就能够
提供评估变压器和线圈的重要参数:电感(L)和DC电阻(DCR)。

1 2

■直流偏置测量

使用选件9268/9269直流偏置单元，电压和电流偏置测量简单可
行。最大可加DC±40V*的偏置。

*依据测量条件而定。

可拆卸前置放大单元

3535本机

9678连接电缆

可将３５３５用前置放大单元与３５３５本机拆离。本
机与前置放大单元通过专用电缆连接，并可将
其延伸至被测物，以减小测量导线的影响。

前置放大单元

3535基本性能

■宽频测量范围

测量频率100kHz~120MHz，以4位分辨率进行设置。

■最快6ms高速测量

4种采样速度可供选择:FAST /NORMAL/ SLOW/SLOW2。最快约为6ms(显
示|Z|时)，为提高生产线效率提供快速采样。
(测量频率视测量参数的不同而不同)。

■14种测量参数

可测量以下参数，也可使用计算机捕捉必要的参数。|Z|，|Y|，θ，Rp，
Rs(ESR)，G，X，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。

■测量的同时进行测量条件的调整

测量频率、信号电平等测量条件，可在监视测量值的同时进行更
改，所以可有效发挥于事前测量、评估标准等设置。

■测量值的存储

主机可存储200组测量值。保存数据可一次传输到计算机或打印
出来。

■放大显示功能

最多4组参数可放大显示，便于生产线或其它距显示有一定距离
的情况下观察测量值。

■BIN(分类)测量

2种测量最多使用10组分类，利用测量值可以很容易地进行分类。

■连续测量

可存储30组测量条件。从中最大可连续测量保存于屏幕的5组测
量条件。使用比较器功能时，使用1台、并通过一系列的操作，可获
得这些条件的AND输出。

■负载补偿功能

测量用于基准参考的样品，可补偿测量值。用此功能可调和各仪
器间的测量值。

■存储30组测量条件

利用可存储30组包括比较值在内的测量条件的功能，为随时更换
的样品检测的反复测量生产线，提供快速响应。

■同时测量4种参数

可选择任何4种参数同时测量并显示。

■相关补偿功能

可设置以下补偿系数a和b，达到对测量值的补偿。
补偿值=a×测量值+b

3522-50/3532-50/3535 LCR HiTESTER

■打印输出

使用选件9442打印机，测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。

利用数字控制

的自动平衡电桥回路

■外部I/O接口

通过Ｉ／Ｏ接口可从外部控制触发、键盘锁开／ 关、以及测量条
件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出，可应用于自

动化生产线。

外部I/O时序图

下图（以3532-50为例）显示的是从EXT.I/O获得的触发(TRIG)
时序图，模拟测量完成(INDEX)、结束测量(EOM)、比较结果的
各信号。

＊１α取决于采样和触发延时。
＊２　１ｋＨｚ测量频率、快速模式、Ｚ测量时的参考值。

触发最小间隔

ｓ

TRIG

INDEX

EOM

HI IN LO

可选择ＧＰ－ＩＢ或者ＲＳ－２３２Ｃ接口（选件）

100

电路响应时间 最小锁定时间

300

１ｍｓ

ｓ＋　　　

＊２

＊１

测量时间５ｍｓ＊２

键盘锁定键，以免误触操作改变设置。

判定结果

外部Ｉ／Ｏ内容

●输出

　　　　●　

内部ＤＣ电源（＋５Ｖ输出）

　　　　●　

比较结果输出

　　　　●　

模拟测量完成信号(3522-50/3532-50)

　　　　●　

BIN（分类）测量结果输出(3535)

　　　　●　

测量结束信号

●输入

　　　　●　

外部ＤＣ供电电源（外部供电为＋５Ｖ￣＋２４Ｖ）

　　　　●　

外部触发信号

　　　　●　

键盘锁的开／关功能（３５２２－５０无）

　　　　●　

装载用配电盘号码的选择

通过计算机进行外部控制(3535)

3535标准配置了RS-232C和GP-IB接口，除了电源ON/OFF以外，
3535本机的所有其它功能都可以由计算机来实现控制。

■RS-232C接口

传输方式: 通信方式　: 全双工，同期方式: 启停式传输
传输速度: 9,600、19,200bps
数据长度: 8位
奇偶特性: 无
停止位: 1位
符号: CR+LF、CR
跟踪控制: 无
连接方法: D-sub9pin插入式、反向连接

3522-50/3532-50/3535 LCR HiTESTER

ＡＣ１００Ｖ、１２０Ｖ、　２２０Ｖ或２４０Ｖ可选型电源 ３５３２－５０背面

ＥＸＴ．Ｉ／Ｏ

标准规格: IEEE-488.1 1987
可使用IEEE-488.2 1987的共同指令

测量原理　　　　利用数字控制的自动平衡电桥回路的采用

从第1振荡器产生测量信号，外加于样品(DUT)，测量LOW端口电压，在其
变为平衡状态(LOW端口电压0V)时，控制第2振荡器的相位和振幅。
从变为平衡状态后的第2振荡

■GP-IB接口

器的相位和振幅，获得DUT的阻
抗Z和相位角θ。

3 4

Ｒｏｕｔ

ＨＩＧＨ

电桥回路

Ｚｄｕｔ

ＬＯＷ

Ｒｆ

第２　振荡器第１振荡器

V

ＣＰＵ

振幅／相位控制