Alle Angaben bei 23 °C nach einer Aufwärmzeit von 30 Minuten
SLIMLINE TASTTEILER HZ355
Elektrische Spezifi kationen
Tei lun gs fak to r1) : 10:1 ± 2 % bei DC
Spannungskoeffi zient: 0,0025 %/V (typisch)
System Bandbreite: 500 MHz (-3 dB)
Anstiegszeit: 700 ps (10 % - 90 %)(typisch)
Maximale bemessene Eingangsspannung:
Messkategorie I
2)
: 400 V
eff
(gem. IEC 61010-031) 1250 V transiente ÜberspannungMesskategorie II 2): 300 V
eff
CAT II
(gem. IEC 61010-031)
Spannungsminderung (Messkategorie I)
400
300
[V] sinus
rms
200
100
Amplitude AC
0
0,11101001000
Frequenz (MHz)
Beac ht en S ie , das s si ch die ma x. beme ssen e
Eingangsspannung des Tastkopfes verringert, wenn sich die Frequenz de s angelegten
Signals erhöht.
Mechanische Eigenschaften
Gewicht (nur Tastkopf): 48 g
Kabellänge: 1,3 m
Tastkopfspitze Ø : 2,5 mm
Umgebungsspezifi kationen
Einsatzhöhe
in Betrieb: bis zu 2000 m
außer Betrieb: bis zu 15000 m
Temperaturbereich
in Betrieb: 0° C bis +50° C
außer Betrieb: -40° C bis +70° C
Maximale relative Luftfeuchtigkeit
in Betrieb: 80 %
für Temperaturen bis zu 30° C
linear fallend bis 40 % bei 50° C
Verschmutzungsgrad
2
Änderungen vorbehalten
3)
: 2
Elektrische Eigenschaften
Eingangs-Widerstand: 10 MΩ ± 1 %
Eingangs-Kapazität: 9,5 pF (typis ch)
Kompensationsbereich: 10 pF - 25 pF (typisch)
Eingangskopplung
des Messinstrumentes: 1 MΩ AC / DC
Eingangsimpedanz
100M
10M
1M
100k
10k
1k
100
10
101001k10k 100k 1M 10M 100M 1 G
Frequenz (MHz)
Beachten Sie, dass sich die max. bemessene
Eingangsimpedanz des Tastkopfes verringer t, wenn sich die Fre quenz des angele gten
Signals erhöht.
1) Ange schlos sen an ein Os zillosko p mit einer E ingangsImpedanz von 1 MΩ ± 1 %.
2) Messkategorie I
Defi nition: Messkategorie I ist für Messungen an
Stromkreisen, die nicht direkt mit der Netzversorgung verbunden sind, vorgesehen.
Beispiele: Messungen an Stromkreisen, die nicht
vom Net z abgelei tet sind, und b esonde rs gesch ützten
Stro mkreise n, die vom Net z abgelei tet sind. Im l etzten
Fall können transiente Belastungen unterschiedlich
sein. D eshalb w ird ver langt, d ass die Übe rspann ungsfestigkeit dem Benutzer bekannt ist.
Messkategorie II (CAT II)
Defi nition: Messkategorie II ist für Messungen an
Stromkreisen, die elek trisch direkt mit dem Niederspannungsnetz verbunden sind, vorgesehen.
Beispiele: Messungen an Haushaltgeräten, tragbaren
Werkzeugen und ähnlichen Geräten.
3) Verschmutzungsgrad 2
Es tritt üblicherweise nur nicht leitfähige VER-
SCHMUTZUNG auf. Gelegentlich muss jedoch mit
vorübergehender Leitfähigkeit durch Betauung
gerechnet werden.
Tastteiler HZ355
Allgemeines
Seien Sie vorsichtig, besonders wenn Sie mit der
dünnen und scharfen Federkontaktspitze arbeite n, um Ver le tz un ge n z u v er me ide n. Be ac ht en S ie ,
dass das Tastkopfkabel ebenfalls ein empfi ndliches Bauteil des Tastkopfs ist. Beschädigen Sie
es nicht durch übermäßiges Verbiegen oder Ziehen. Vermeiden Sie generell mechanische Überbelastungen, um die Leistung und den Schutz
dieses Produkts nicht zu beeinfl ussen.
Wartung und Reinigung
Verwenden Sie für die Reinigung des Tastkopfgehäuses ein weiches Tuch, das entweder mit
destilliertem Wasser oder mit Isopropyl-Alkohol
angefeuchtet wird. Lassen Sie den Tastkopf vor
Gebrauch vollständig trocknen.
Wechseln der Tastkopfspitze
Um die Tastkopfspitze zu tauschen, verwenden
Sie eine Flachzange um die Tastkopfspitze
vorsichtig zu greifen und sie axial aus ihrem
Kontaktsockel herauszuziehen. Halten Sie den
Tastkopf dabei nicht mit einer Zange an der weißen Kunststoffi solierung oder an dem Gehäuse
fest, da dadurch die Spitze zusammengedrückt
werden kann und sich diese nicht mehr entfernen
lässt bzw. der Tastkopf beschädigt werden kann.
Ist die Tastko pfspitze ent fernt, lässt sich die neue
Spitze axial mit einer Zange in die Kontakthülse
einführen. Dr ücken Sie die Spitze vorsichtig gegen
eine harte Oberfl äche, um die Tastkopfspitze vollständig in die Kontaktbuchse einzusetzen.
Verwenden Sie eine
Flachzange um die
Tas tko pfsp itze vorsichtig zu greifen.
Greifen Sie nicht mit
der Zange auf die
Kunststoffi solierung
oder das Tastkopfgehäuse.
Lieferumfang
Die folgenden Artikel sind im Lieferumfang enthalten (siehe auch Anhang Seite 10).
Der HZ355 setzt neue Maßstäbe für High-Performance-Tastteiler. Die kompakte Bauform
mit nur 2,5 mm Gehäusedurchmesser an der
Tastkopfspitze ist ideal für Messungen an SMT
Bauelementen, da sie eine weitaus bessere Sicht
auf das zu prüf ende Bauteil er laubt, al s herkömmliche 5 mm Tastkopfgehäusedesigns.
Ein Mar kenzeichen für H AMEG Sliml ine Ta stköpfe
ist die austauschbare Tastkopfspitze. Die eigentliche Tastkopfspitze ist nur 0,5 mm stark, vergoldet und federgelagert. Eine feste, aber stabilere
Spitze (CuBe) steht dem Anwender ebenfalls zur
Wahl. Die Spitzen können je nach Einsatzzweck
einfach ausgetauscht werden.
Speziell für HF Messungen am IC ist eine möglichst kurze Masse-Verbindung nötig. Herkömmliche A daptionen bri ngen durch lange Zuleitungen
zusätzliche Induktivität und Resonanzen in den
Messkreis und verfälschen so das Messsignal.
Hi er bi ete t d as in no va ti ve IC Kon ta kt ie rs ys te m d es
HZ35 5, bestehe nd aus 5 verschieden en IC-Kappe n
für „Pitch“ Abstände von 0,5 bis 1,27 mm, dem
innovativen „Ground-Blade“ und dem KupferMasseplättchen „Copper-Pad“ zum Aufkleben auf
den IC, die ideale Lösung f ür kurzschlusssicher e,
reproduzierbare und unverfälschte Messungen.
Abgleich
Der Tastkopf kann sowohl für den niederfrequenten Bereich (NF), als auch für den hochfrequenten Bereich (HF) abgeglichen werden.
NF Abgleich (Probe Adjust 1 kHz)
Der NF-Abgleich muss erfolgen, wenn Sie den
Tastkopf das erste Mal an Ihr Oszilloskop anschliessen. Der NF-Abgleich passt die TastkopfKabelkapazität an die Oszilloskop-Eingangskapazität an. Diese Anpassung gewährleistet eine
hohe Amplituden-Genauigkeit von DC bis zur
Maximalfrequenz. Ein schlecht abgeglichener
Tas tko pf b eein fl usst die gesamte Performance
des Messsystems (Tastkopf + Oszilloskop) und
führ t zu Messfehlern durch ung enaue Messwer te
und verzerrte Signalformen.
Der NF Abgleich wird durchgeführt, indem man
den Tastkopf an den Probe Adjust-Ausgang an der
Frontseite des Oszilloskops anschließt und mit
dem NF Abgleich Trimmer auf optimale Rechteckanzeige abgleicht. Zur Verdeutlichung sehen
Sie die nachstehenden Abbildungen.
Zusammen mit zahlreichen Zubehörteilen lässt
der neue H Z355 Tastkopf ka um Wünsche hinsichtlich Verbindungsmöglichkeiten zum Messpunkt
offen.
IC Kontaktiersystem mit IC-Kappe, “Ground-Blade” und Kupfer-Masseblättchen.
4
Änderungen vorbehalten
Unterkompensiert
Optimalwert
NF Abgleich
Überkompensiert
Abgleich
Tastteiler HZ355
HF Abgleich (Probe Adjust 1 MHz)
Typischerweise ist es nicht notwendig den HF
Abgleich vorzunehmen, es sei denn der Tastkopf
wird an einem Oszilloskop ver wendet, das große
Unterschiede in der Eingangscharakteristik zum
HMO3522 /HMO3524 auf weist. In diesem Fall sollten Sie den Hochfrequenzabgleich des Tastkopfs
überprüfen und gegebenenfalls einstellen. Wir
empfehlen die Verwendung des internen Probe
Adjust Generators im „1 MHz“-Betrieb.
Justieren Sie die Trimmer (T1 und T2), für die
optimale Rechteckanzeige. T1 w ird zum E instellen
der Anstiegszeit verwendet T2 beeinfl usst die
Tas tko pf A nsprechzei t
Vorderseite
NF Abgleich
(von außen erreichbar)
T
1
T
2
T 1
Ziehen Sie mit einem geeigneten Werkzeug die
Kunststoffabdeckung einschließlich der Kabelhülle zurück, um an die Trimmer T 1 und T 2 zu
gelangen.
Rückseite
T 2
Änderungen vorbehalten
5
Probe HZ355
|Z| [Ohm]
TECHNISCHE DATEN
TECHNISCHE DATEN
Referenztemperatur: 23 °C ±2 °C
Referenztemperatur: 23 °C ±2 °C
All data valid at 23 °C after 30 minute warm-up
SLIMLINE PROBE HZ355
Electrical specifi cations
Attenuation ratio1) : 10:1 ± 2 % at DC
Voltage coeffi cient: 0.0025 %/V (typical)
System bandwidth: 500 MHz (-3 dB)
Probe risetime: 700 ps (10 % - 90 %)(typical)
Maximum rated input voltage:
Measuring category I
2)
: 400 V
rms
(corr. IEC 61010-031) 1250 V transient overvoltageMeasuring category II 2): 300 V
rms
CAT II
(corr. IEC 61010-031)
Voltage derating (Measuring category I)
400
300
[V] sinus
rms
200
100
Amplitude AC
0
0,11101001000
Frequence (MHz)
Note that the max. input voltage rating of
the probe decr eases as the frequency of the
applied signal increases.
Mechanical characteristics
Weight (probe only): 48 g
Cable length: 1.3 m
Probe tip Ø : 2.5 mm
Environmental specifi cations
Altitude
operating: up to 2000 m
non-operating: up to 15000 m
Temperature range
operating: 0° C to +50° C
non-operating: -40° C to +70° C
Maximum relative humidity
operating: 80 %
for temperatures up to +30° C
decreasing linearly to 40 % at 50 °C
Pollution degree 3): 2
6
Subject to change without notice
Electrical characteristics
Input resistance: 10 MΩ ± 1 %
Input capacitance: 9,5 pF (typic al)
Compensation range: 10 pF - 25 pF (typical)
Input coupling of the
measuring instrument: 1 MΩ AC / DC
Input impedance
100M
10M
1M
100k
10k
1k
100
10
101001k10k 100k 1M 10M 100M 1 G
Frequency (MHz)
Note that the input impedance of the probe
decreases as the frequency of the applied
signal increases.
1) Connec ted to an oscilloscope with an input impedance
of 1 MΩ ± 1 %.
2) Measurement category I
Defi nition: Measurement categor y I is for measure-
ments performed on circuits not directly connected
to a mains supply.
Examples: Measurements in circuits not derived
from a m ains suppl y and speci ally prote cted (inter nal)
circuits derived from a mains supply. In the latter
case , transient stre sses are v ariable; fo r that reaso n
requires that the transient withstand capabilit y of the
equipment is made known to the user.
Measurement category II (CAT II)
Defi nition: Measurement category II is for measure-
ments performed on circuits directly connected to
the low voltage installation.
Examples: Household appliances, portable tools and
similar equipment.
3) Pollution degree 2
Only non conductive POLLUTION. Occasionally, how-
ever, a temporar y conductivity caused by condensation must be accepted.
Probe HZ355
Maintenance
Handle with care especially when fi tted with the
extra thin and sharp spring contact tip to avoid any
injur y. Note that the probe cable is a sens itive par t
of the probe. Do not damage through excessive
bending or pulling. Avoid mechanical shock to
this product in general to guarantee accurate
performance and protection.
Cleaning
To clean the exterior of the probe use a soft
cloth moistened with either distillated water or
isopropyl alcohol. Before use allow the probe to
dry completely.
Changing the probe tip
To change the probe tip use pliers to gr ip and pull
it carefully straight out of its contact socket, along
the axis of the probe. Do not grip the white plastic
insulator or the housing with pliers, because the
tip could be squeezed and cannot be removed
and respectively the probe could be damaged.
If the probe tip is removed, the new tip can be
inserted with pliers into the contact socket, along
the axis of the probe. In order to insert the probe
tip completely into the housing, press the probe
tip against a hard surface carefully.
Included in Delivery
The following items are included in the scope
of delivery (please refer also to the appendix on
page 10).
Item Qty SP11)SP2
Operators manual
(GER, UK)
Spring tip, gold plated
0.5 mm (fi tted in probe)
Solid tip CuBe 0.5 mm
(attached in tube)
Ground-Blade 2.5 (moun-
table spring tip, gold plated)
IC-Cap 2.5
0.5 mm pitch; green
IC-Cap 2.5
0.65 mm pitch; blue
IC-Cap 2.5
0.8 mm pitch; grey
IC-Cap 2.5
1.0 mm pitch; brown
IC-Cap 2.5
1.27 mm pitch; black
Insulating cap 2.5 black,
10 mm l ong
Hook clamp 2.5
(mountable to probe)
Coding rings (Set)
3x4 colours
Sprung hook 2.5 (spiral spring)
1x
1x1x5x
1x1x1x
1x1x2x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x
1x1x1x
2)
Use pliers to grip
and pull the probe
tip carefully out of
its contact socket.
Do not grip the white
plastic insulator or the
probe housing with
pliers.
Ground lead 15 cm 1x1x
PCB Adapter Kit 2.5 (1x GND-
1) SP1 = Spare Par t-KIT 1, Standard Spare Part-KIT
(like incl. in delivery), Item-No. 29-0355-K001
2) SP 2 = Spare Par t-KIT 2, Inc idental Spar e Part-KI T,
Item-No. 29-0355-K002
Subject to change without notice
1x1x
1x
1x1x
2x1x
7
Probe HZ355
Introduction
The HZ355 passive probe family sets new standards in high per formance probing. The compact
design with only 2.5 mm housing diameter at
the probe tip is ideal for measurements of SMT
components. It provides a much better visibility
on the DUT (device under test) as conventional
5 mm probe housing designs.
A top feature of HAMEG Slimline Probes is the
exchangeable probe tip. The gold plated spring
contac t or the rigid ti p are only 0.5 mm in di ameter.
The tip r eplacement is easy a nd gives the en gineer
the best choice.
Par ticularl y for HF measurements on IC´s , a short
as possible ground connection is recommendable.
Due to long ground leads most conventional
adaptations bring additional inductance and resonances into the measur ement which will result
in false or inaccurate readings. The innovative IC
contacting system of the HZ355 with 5 different IC
ad ap te rs fr om 0 .5 to 1 .2 7 mm pi tc h in co mbin at io n
with the ground blade and IC ground copper pad
is the ideal solution for short-circuit-safe, reproducible, and authentic measurements.
These great advantages and multiple accessory
parts for the new HZ355 probe series will offer
various confi guration to solve most adaptation
desires.
Compensation
The probe can be adjusted for low frequency
(LF) compensation and for high frequency (HF)
compensation.
LF Compensation (Probe Adjust 1 kHz)
LF needs to be adjusted when the probe is
connected to the scope input the fi rst time. LF
compensation matches the probes cable capacitance to the oscilloscope input capacitance. This
matching assures good amplitude accuracy from
DC to upper bandwidth limit frequencies . A poorly
compensated probe clearly infl uences the overall
system per formance (p robe + scope) and introduces measurement errors resulting in inaccurate
readings and distorted waveforms.
LF compensation is performed by connecting the
probe to the probe adjust output on the oscilloscope front panel and adjusting the LF compensation trimmer to optimum square wave response.
For clarifi cation see below fi gures.
IC co nt ac ti ng sy st em w it h I C a da pte r, g ro un d b la de
and IC ground copper pad.
8
Subject to change without notice
undercompensated
LF compensation
overcompensated
optimum
Compensation
HF Compensation (Probe Adjust 1 MHz)
It is typically not necessary to adjust HF compensation unless the probe is being used with
an oscilloscope having large differences in input
character istics to the HMO 3522/ HMO3524 . In this
case you should check the probes high frequency
response and adjust it if necessary. We recommend to use the internal Probe Adjust Generator
in 1 MHz mode.
Adjust trimmers (T1 and T2) for optimum square
wave response.
T1 is used for rise time adjustment.
T2 infl uences probe response time.
Probe HZ355
T
1
T
2
Front
NF Adjustment
(reachable without opening)
T 1
Use a suitable tool to pull back the PVC cover.
Then you can reach Trimmer T 1 and T 2 for adjustment.