Datasheet SFH314FA-2, SFH314FA-3, SFH314, SFH314-2, SFH314-3 Datasheet (Siemens)

...
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.
Neu: NPN-Silizium-Fototransistor New: Silicon NPN Phototransistor
Area not flat
0.8
6.9
6.1
5.7
5.5
0.4
ø5.1
4.0
3.4 Chip position
5.9
5.5
ø4.8
GEX06630
0.6
0.4
spacing
2.54 mm
Cathode (Diode) Collector (Transistor)
Approx. weight 0.4 g
1.8
1.2
29.5
27.5
SFH 314 SFH 314 FA
SFH 314 SFH 314 FA
0.6
0.4
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensio ns in mm , unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Speziell geeignet für Anwendungen im
Hohe Linearität
5 mm-Plastikbauform
Anwendungen
Computer-Blitzlichtgeräte
Lichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb
Industrieelektronik
“Messen/Steuern/Regeln”
Features
Especially suitable for applications from
460 nm to 1080 nm (SFH 314) and of 880 nm (SFH 314 FA)
High linearity
5 mm plastic package
Applications
Computer-controlled flashes
Photointerrupters
Industrial electronics
For control and drive circuits
feof6652 feo06652
Semiconductor Group 1 1997-11-27
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Typ Type
SFH 314 SFH 314 FA
Bestellnummer Ordering Code
SFH 314 SFH 314-2 SFH 314-3
SFH 314 FA SFH 314 FA-2 SFH 314 FA-3
Q62702-P1668 Q62702-P1755 Q62702-P1756
Q62702-P1675 Q62702-P1757 Q62702-P1758
Grenzwerte Maximum Ratings
Bezeichnung Description
Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range
Löttemperatur bei Tauchlötung Lötstelle 2 mm vom Gehäuse, Lötzeit
t ≤ 5 s
Dip soldering temperature 2 mm distance from case bottom, soldering time
t ≤ 5 s
Symbol Symbol
T
; T
op
stg
T
S
Wert Value
Einheit Unit
– 55 ... + 100 °C
260 °C
Löttemperatur bei Kolbenlötung Lötstelle 2 mm vom Gehäuse, Lötzeit
t ≤ 3 s
Iron soldering temperature 2 mm distance from case bottom
t ≤ 3 s
Kollektor-Emitterspannung Collector-emitter voltage
Kollektorstrom Collector current
Kollektorspitzenstrom, τ < 10 µs Collector surge current
Emitter-Kollektorspannung Emitter-collector voltage
Verlustleistung,
T
= 25 °C
A
Total power dissipation Wärmewiderstand
Thermal resistance
T
S
V
CE
I
C
I
CS
V
EC
P
tot
R
thJA
300 °C
70 V
50 mA
100 mA
7V
200 mW
375 K/W
Semiconductor Group 2 1997-11-27
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Kennwerte (TA = 25 °C, λ = 950 nm) Characteristics
SFH 314 SFH 314 FA
Bezeichnung Description
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit Wavelength of max. sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von S
max
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of S
max
Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area
Abmessung der Chipfläche Dimensions of chip area
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseober­fläche Distance chip front to case surface
Halbwinkel Half angle
Symbol Symbol
Wert
Value
Einheit Unit
SFH 314 SFH 314 FA
λ
S max
850 870 nm
λ 460 ... 1080 740 ... 1080 nm
A
L × B L
× W
H
0.55 0.55 mm
1 × 11×1mm×mm
3.4 ... 4.0 3.4 ... 4.0 mm
ϕ±40 ± 40 Grad
deg.
2
Kapazität,
V
= 0 V, f = 1 MHz, E = 0
CE
Capacitance Dunkelstrom
Dark current
V
= 10 V, E = 0
CE
Fotostrom, Photocurrent
E
= 0.5 mW/cm2, VCE = 5 V
e
E
= 1000 Ix, Normlicht/standard light A,
v
V
= 5 V
CE
C
I
I I
CE
CEO
PCE PCE
15 15 pF
10 (200) 10 (200) nA
0.63 7
0.63 –
mA mA
Semiconductor Group 3 1997-11-27
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SFH 314 SFH 314 FA
Die Fototransistoren werden nach ihrer Fotoempfindlichkeit gruppiert und mit arabischen Ziffern gekennzeichnet. The phototransistors are grouped according to their spectral sensitivity and distinguished by arabian figures.
Bezeichnung Description
Fotostrom, λ = 950 nm Photocurrent
E
= 0.5 mW/cm2, VCE = 5 V
e
SFH 314:
E
= 1000 Ix, Normlicht/
v
standard light A,
V
= 5 V
CE
Anstiegszeit/Abfallzeit Rise and fall time
I
= 1 mA, VCC = 5 V,
C
R
= 1 k
L
Kollektor-Emitter-
Sättigungsspannung Collector-emitter saturation voltage
PCEmin
1)
× 0.3,
2
I
= I
C
E
= 0.5 mW/cm
e
Symbol Symbol
I
PCE
I
PCE
t
, t
r
f
V
CEsat
Wert
Value
Einheit Unit
-1 -2 -3 -4
0.63 ... 1.25
3.4
1...2
5.4
1.6 ... 3.2
8.6
2.5
13.5
mA
mA
8101214µs
150 150 150 150 mV
1)
I
ist der minimale Fotostrom der jeweiligen Gruppe
PCEmin
1)
Directional characteristics S
50
60
I
is the min. photocurrent of the specified group
PCEmin
70
80
90
100
= f (ϕ)
rel
ϕ
10203040
0
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0
02040 60 80 100 1200.40.60.81.0
OHF02329
Semiconductor Group 4 1997-11-27
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T
= 25 °C, λ = 950 nm
A
Rel. spectral sensitivity SFH 314 S
100
S
rel
% 80 70 60 50 40 30 20 10
0
400
500 600 700 800 900 nm 1100
Photocurrent I V
= 5 V, normalized to 25oC
CE
1.6
Ι
PCE
Ι
25
PCE
1.4
1.2
PCE
= f (TA),
OHF02332
λ
OHF01524
rel
=f (λ)
Rel. spectr.sensitivity SFH 314 FA,S
100
S
rel
% 80 70 60 50 40 30 20 10
0
400
500 600 700 800 900 nm 1100
Photocurrent
I
= f (Ee), VCE= 5 V
PCE
1
10 mA
Ι
PCE
0
10
OHF02331
λ
OHF02339
rel
=f(λ)
Dark current I
2
10
nA
Ι
CEO
1
10
0
10
-1
10
-2
10
0
CEO
10 20 30 40 50 70V
Collector-emitter capacitance
CCE= f (VCE), f = 1 MHz
50
C
CE
pF 40
SFH 314 SFH 314 FA
= f (VCE), E = 0
OHF02341
V
CE
OHF02344
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0 25 50 75 100
-25
Photocurrent
I
= f (VCE), Ee = parameter
PCE
1
10 mA
Ι
PCE
0
10
-1
10
0
10 20 30 40 50 V 70
30
-1
10
-2
10
-3
10
C
T
A
-3 -2
10
10
Total power dissipation
P
= f (TA)
tot
OHF02338
mW
1
2
cm
0.5
0.25
0.1
mW cm
mW cm
mW cm
2
2
2
250 mW
P
tot
200
150
100
50
2
10mW/cm
E
e
OHF02340
0
20
10
0
-2 -1
10
10010110 102V
Dark current
I
= f (TA), VCE= 10 V, E = 0
CEO
2
10
nA
Ι
CEO
1
10
0
10
-1
10
V
CE
OHF02342
-2
0
0 20 40 60 80 ˚C 100
V
CE
T
A
10
0
20 40 60 80 100˚C
T
A
Semiconductor Group 5 1997-11-27
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